Bruker at IMC20
Bruker의 고가치 솔루션으로 현미경 기반 연구를 향상시키세요
Booth C-13 에서 부르커를 만나실 수있습니다.
IMC20 - 제 20회 국제현미경학술대회
9월 10일부터 15일까지 한국 부산의 IMC20에서 열리는 브루커와 함께 현미경 기반의 연구를 향상시킬 수 있는 광범위한 분석 도구에 대해 자세히 알아보십시오.
브루커의 시스템은 추가 기능으로 전자 현미경을 증강하는 데 사용될 수 있으며, 연구자들이 SEM 또는 TEM을 사용하여 원소 및 미세 구조 매핑을 수행할 수 있습니다. 당사의 전자 현미경 분석기 범위에는 SEM의 EDS, EBSD, WDS 및 마이크로 XRF용 시스템이 포함되어 2차원 샘플에 대한 포괄적인 원소 및 구조 분석을 용이하게 합니다. 또한, 당사의 피코인덴터를 사용하여 SEM 내에서도 나노 기술 테스트가 가능합니다.
다양한 적외선 현미경을 사용하여 샘플의 초고속 화학 매핑이 가능합니다. 연구자는 FT-IR, 적외선 레이저 이미징(QCL) 또는 두 가지 기술을 사용하여 샘플의 초고속 화학 매핑을 동시에 수행할 수 있습니다.
또한 당사는 고급 턴키 원자력 현미경의 형태로 재료의 완전한 나노 기계적 특성화를 위한 시스템을 제공합니다.
당사의 광범위한 현미경 솔루션과 이 솔루션이 IMC20의 연구에 가져올 수 있는 모든 가능성에 대해 귀하와 논의하게 되어 기쁩니다. C-13 부스의 브루커를 방문하여 당사의 대표자와 이야기하고 자세한 내용을 알아보십시오.
해결해야 할 구체적인 질문이나 문제가 있거나 프라이빗한 문의가 필요한 경우 비공개 회의를 할 수 있습니다. "브루커와의 미팅 예약" 배너를 이용하여 미팅에 대한 문의사항을 등록하십시오.
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컨퍼런스 현장에서 만나 뵐 수 있으며, 참석이 어려운 분들을 위해 컨퍼런스 종료 후 온라인으로도 미팅을 주선해 드릴 수 있습니다.