Dimension XR
Dimension XR (ディメンション XR )
ブルカーDimensionXRは数十年に渡る研究＆開発実績と技術革新をもとに、ナノスケール研究史上最高性能、高機能、拡張性を備えた1台。FastScan® 、Icon®AFM プラットフォームの最新モデルとなるExtream Research（XR）SPM ファミリーは、ナノメカニカル、ナノ電気およびナノ電気化学特性向けの最先端研究向けにユニークなパッケージソリューションを提供します。また大気、液中、電気または化学反応環境下における材料および活性ナノスケールシステムの定量化を、今までにないほど簡単に実現します。
すべてのモード、すべての環境で最高の解像度を実現
液体や剛性マップの点欠陥から、空気中や導電率マップの原子分解能まで、Dimension XRシステムはすべての測定において最高の分解能を提供します。ブルカー独自のPeakForce Tapping技術を利用して、結晶欠陥の分解能やポリマーの分子欠陥を含むハードマターとソフトマターの両方の性能ベンチマークを達成しています。この技術は、何百枚もの画像で粗面化されたガラスの微小な凹凸を解決するのにも同様に重要な役割を果たしています。このシステムは、PeakForceタッピングと非常に安定した安定性、独自のプローブ技術、そしてブルカーの数十年に渡るチップスキャニングの革新的な経験を組み合わせたものです。その結果、試料のサイズ、重量、媒体に関係なく、あらゆるアプリケーションに対応した最高の解像度のイメージングを一貫して行うことができます。
革命的なAFM-nDMA (動的粘弾性評価)
ナノスケールでのポリマーの完全かつ定量的な粘弾性解析が可能なAFMは、レオロジー的に適切な周波数で材料をプローブし、線形領域での測定を可能にしました。独自のデュアルチャンネル検出、位相ドリフト補正、基準周波数トラッキングにより、バルクDMAに直接関連する貯蔵弾性率、損失弾性率、損失正接のナノスケール測定のために、レオロジー的に適切な0.1 Hz～20 kHzの範囲の微小ひずみ測定が可能になりました。
ブルカー独自のDataCube モード
これらのモードはFASTForce Volume上で動作し、ユーザーが定義するプローブの作動時間内において、すべてのピクセルでForce -Distance スペクトルを取得します。高いデータキャプチャレートを使用すると、接触時間中に電気測定が実行され、各ピクセルで電気および機械的スペクトルが得られます。DataCubeモードは、1回の実験で完全な特性評価を提供しますが、これは今日の商用で他に類を見ません。
ブルカーだけの PeakForce SECM
100nmを上回る空間分解能で、SECMモードは液体中の電気化学的プロセスのナノスケール可視化が可能であることを証明しました。は、従来のアプローチに比べて分解能を大幅な向上を達成しています。これにより、エネルギー貯蔵システム、腐食科学およびバイオセンサーの全く新しい研究が可能になり、個々のナノ粒子、ナノ相およびナノ細孔の新規研究領域の扉を開きます。PeakForce SECMは、ナノスケールの横方向分解能を備えたトポグラフィ、電気化学、電気、およびメカニカル特性マップの同時キャプチャを実現する唯一のモードです
Powered by the NanoScope 6 AFM Controller
Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.
NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:
- Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
- Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
- Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.
Contact us to discuss your measurement requirements, the systems best-suited to your applications, and options for system specialization, or submit a sample run request to validate that a Bruker AFM will meet your specific needs.
AFM モードでアプリケーションを拡張する
使用可能なイメージングモードの比類のないスイートで、Brukerはあらゆる調査のためのAFM技術を持っています。
コアイメージングモードのバックボーン(コンタクトモードとタッピングモード)に基づいて構築されたBrukerは、サンプルの電気的、磁気的、または材料特性を調査できるAFMモードを提供します。Brukerの革新的な新しいPeakForceのタッピング技術は、いくつかのモードに組み込まれた新しいコアイメージングパラダイムを表し、地形、電気、機械的特性データを並行して提供します。
ディメンション XR データ ギャラリー
