Analizadores de microscopio electrónico

QUANTAX EBSD

TKD sobre el eje para un rendimiento sin igual

Mejor resolución espacial

Baja corriente de haz requerida

1.5
nm
Resolución espacial efectiva
El exclusivo TKD sobre el eje ofrece una geometría óptima de la muestra y el detector, lo que resulta en un rendimiento sin igual
2
nA
Corriente máxima requerida
El TKD sobre el eje permite mediciones con corriente de haz baja sin afectar la velocidad y la calidad de los datos
125,000
pps
Adquisición ultrarrápida en imágenes de FSE, BSE & STEM
Imágenes de alto contraste y bajo ruido en segundos gracias al inigualable sistema de imágenes ARGUS

Mapeo de orientación de nanomateriales con resolución espacial inigualable

El sistema QUANTAX EBSD, con su popular detector intercambiable OPTIMUS TKD, es la mejor solución disponible para analisis de nanomateriales en MEB. Aquí está la razón:

  • Ofrece la mejor resolución espacial hasta 1.5 nm
  • Opera con bajas corrientes de sonda sin comprometer la velocidad y/o la calidad de los datos
  • La única solución TKD que funciona en modo de resolución ultraalta en MEB que utilizan tecnología de lentes de inmersión
  • Sistema de imágenes ARGUS integrado y totalmente automático

¿Por qué necesito TKD sobre el eje?

  • Para lograr la mejor resolución espacial
  • Para la orientación y el mapeo de fases en un MEB
  • Para mapeos rápidos sin comprometer la calidad/integridad de los datos
  • Para la adquisición de imágenes similares a STEM con excelente contraste y resolución a velocidades increíbles y con optimización de señal totalmente automática
  • Para analizar materiales sensibles al haz utilizando corrientes de haz bajas.

Recursos & Publicaciones

Hojas de especificaciones