QUANTAX EBSD

1,5

nm

Effektive räumliche Auflösung

Unübertroffene Leistung durch einzigartige On-Axis-TKD mit optimaler Probe-Detektor-Geometrie

2

na

Maximal erforderlicher Strahlstrom

On-Axis TKD ermöglicht Messungen bei niedrigem Strahlstrom ohne Beeinträchtigung der Geschwindigkeit und Datenqualität

125.000

pps

Ultraschnelle Erfassung von FSE-, BSE- und STEM-Bildern

Kontrastreiche und geräuscharme Bildgebung innerhalb von Sekunden mit dem unübertroffenen ARGUS-Bildgebungssystem

Orientierungsmaps von Nanomaterialien mit unübertroffener räumlicher Auflösung

Das QUANTAX EBSD-System mit dem OPTIMUS TKD-Detektorkopf ist die beste verfügbare Lösung für die Analyse von Nanomaterialien im REM, weil es:

die beste räumliche Auflösung von bis zu 1,5 nm bietet
mit niedrigen Strahlströmen ohne Kompromisse bei der Geschwindigkeit und/oder Datenqualität arbeitet
die einzige TKD-Lösung ist, die im ultra-hochaufgelösten REM-Modus bei Benutzung von Immersionslinsen anwendbar ist
das vollautomatische, integrierte ARGUS-Bildgebungssystem verwendet

kontaktieren Sie uns OPTIMUS 2

Warum brauche ich On-Axis TKD?

Wir danken Aaron Lindenberg und seiner Arbeitsgruppe an der Stanford University für die Erlaubnis, dieses Dunkelfeld-ähnliche Bild ihrer Ge-Sb-Te (GST) Dünnschichtprobe zu veröffentlichen

um die beste räumliche Auflösung zu erreichen
für Orientierungsmaps und Phasenzuordnung im REM
für schnelles Mapping ohne Kompromisse bei der Datenqualität und - integrität
zur Erfassung von STEM-ähnlichen Bildern mit hervorragendem Kontrast und bester Auflösung bei höchsten Geschwindigkeiten und mit vollautomatischer Signaloptimierung
zur Analyse strahlempfindlicher Materialien mit niedrigen Strahlströmen