ContourX-500
ContourX-500 光学轮廓仪是全球功能最全面的自动化台式系统，可快速完成非接触式三维表面计量。ContourX-500 具有卓越的 Z 轴分辨率和准确度，并具备布鲁克落地式白光干涉（WLI）仪器广受业界认可的所有优势，而占地面积更小。该款轮廓仪可轻松自主配置，适用于从精密加工表面和半导体工艺的质量保证／质量控制（QA/QC）计量到眼科和微机电系统（MEMS）器件的研发表征等广泛的复杂应用。
倾斜/俯仰
光学头
旋转测头进行不同角度测量表面特征时，将跟踪误差减至最低。
最先进
用户界面
提供对大量预编程过滤器和分析程序的直接调用。
集成式
气浮隔震
在紧凑空间内提供最佳计量精度。
专为卓越台式计量设计
布鲁克专有的光学头倾斜/俯仰技术，为用户生产设置和检测提供极大的灵活度。布鲁克将自动倾斜/俯仰功能与显微镜头中的光路相结合，实现了检测点与视线的结合，不受倾斜影响，从而减少操作人员的干预，提供最大可重现性。其他硬件功能包括创新工作台设计，可提升拼接能力；配备一只 5MP 摄像头，并采用 1200x1000 测量阵列，可降低噪声、扩大视场并提高横向分辨率。ContourX-500 将这些功能与自动化平台设置和物镜相融合，而且仅占较小的空间，成为“按需测量”研发和工业计量的理想系统。
传统的俯仰滚动工作台设计需要操作人员调整五个旋转轴，以将检测点保持在视线上进行测量。布鲁克独特的光学头倾斜/俯仰设计，不受倾斜影响，都能将视线保持在检测点上，从而优化图像采集，并大幅缩短数据获取时间。
直接使用多种分析
分析微流体器件的底部通道，通过 Vision64 的多个区域直接提取。
ContourX-500采用布鲁克简单而强大的 VisionXpress™ 和 Vision64® 用户界面，提供数千种自定义分析以提升实验室和工厂的效率。布鲁克全新通用扫描干涉（USI）测量模式可提供全自动、自感知式表面纹理、优化信号处理，同时对所分析的表面形貌执行最准确、最实际的计算。
