原子力显微镜

MultiMode 8-HR 原子力显微镜

全球最扩展性最高的高分辨 AFM

Multimode 8-HR

MultiMode® 测试平台作为历史悠久的经典机型,由于其卓越的分辨率与性能享誉至今。Multimode 8-HR 原子力显微镜通过高速PeakForce Tapping ®、增强的 PeakForce QNM®、全新的 FASTForce Volume和独家布鲁克探针技术,在成像速度、分辨率和纳米机械性能方面有了进一步的改进,使得综合性能显著提升。

前沿
高分辨成像
让科学家能够捕捉分子和生物结构的最精细的图像,如蛋白质或DNA双螺旋。
便捷
大师级成果
给予所有用户更快、更高质量的可重复性实验结果。
无限
灵活配置
支持各种附件,可根据您的特定应用定制您的 AFM。
特征

NanoScope 开放信号工具

MultiMode 8-HR提供多种选项来监控信号,修改实时操作,并实现自定义离线分析。标准的NanoScope®工具可直接实现数据导入MATLAB和ASCII导出。您可以使用Virtual SAM监控内部信号并自定义信号输入,或者使用可选的SAM lll模块扩展您的功能需求。AFM功能的控制可通过可选的纳米刻蚀模块和NanoScope COM接口来实现。最终,您可以利用NanoScope Open-Access功能将实验扩展到标准AFM模式之外,以开发自己的模式来获取新的独特数据。

用于信号输入和输出的 NanoScope 控制器。

PeakForce-HR 模块

使用PeakForce-HR 对聚合物成像。扫描范围 1 μm ,扫描速度 5 Hz。 样品由北卡罗来纳大学的 S. Sheiko提供。

MultiMode 8-HR 旨在充分利用峰值力轻敲技术,在空气成像速度加快了6倍,而不会降低图像质量。

先进的环境控制

Multimode 8-HR 具有对样品加热和冷却功能。低温配件可在 -35°C 至 100°C 的空气或液体中加热和冷却。高温配件可加热至 250°C,通常用于研究聚合物相变。变温功能的独特之处在于,允许在变温过程中通入保护气,防止样品氧化和尖端加热,还可以同时加热探针,防止探针被污染。环境控制附件既可与加热/冷却配件集成在一起,也可作为单独的环境室选配。

三聚物的 PeakForce-HR 图像。从室温(左)开始,样品在加热至 60°C(中间)时熔化,然后在冷却至 55°C(右)时重新结晶。扫描范围 3 μm,以 10 Hz 成像。
Software

Powered by the NanoScope 6 AFM Controller


Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.

NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:

  • Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
  • Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
  • Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.

Contact us to discuss your measurement requirements and options for system specialization, or submit a sample run request to learn how a Bruker AFM is best suited for your applications.

AFM 模式

用AFM拓展您的应用

凭借一整套出色的AFM成像模式,布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。

基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套 AFM测试模式,允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式,已被应用到多种测量模式中,能同时提供形貌、电学和力学性能数据。

推荐

听听客户怎么说

借助 Multimode 8的 PeakForce TUNA 模块,我们得以了解掺杂半导体的微观电学特性,进而探索了许多纳米级新材料及其电子特性。过去三年来,我们一直在使用 Multimode 8,不得不说,这个仪器真的很强大。

印度理工学院(IIT)甘地纳加尔博士

对我们来说,Multimode 8是真正的主力。借助Multimode,我们每年出版多达20篇论文。Multimode 提供的小体积封闭液池功能非常强大。

太平洋西北国家实验室吉姆·德约雷奥博士

通过将 PeakForce QNM 和 PeakForce TUNA 相结合,我们能够以前所未有的质量和分辨率确定湿敏离子体的纳米结构和离子电导率分布。对我们来说,Multimode 8 AFM 的多功能性和灵活性为电化学能源应用材料的众多探索开辟了道路。

德国埃斯林根应用科学大学雷纳特·希斯根博士

我最近将我的 NanoScope III Multimode AFM 升级到了Multimode 8。 我真的很喜欢新的 ScanAsyst 模式来收集 AFM 图像,它是如此简单,使培训新学生变得轻而易举。如果我在调整好激光的位置,学生可以在 30 分钟内开始收集自己的图像。这比轻敲模式容易得多,图像也一样好。我印象非常深刻。

玛丽安·柯林森博士,弗吉尼亚联邦大学

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