Dimension Icon AFM-Raman联用系统汇集了原子力显微镜和拉曼显微镜的优势,能提供有关样品形貌和化学成分的关键信息。当这些技术与先进的 AFM成像模式(例如布鲁克独家 PeakForce TUNA纳米电学技术和PeakForce QNM®定量纳米力学技术)相结合时,研究人员能够更好地研究材料特性形成的机制。
AFM-Raman 系统由Dimension Icon® AFM和研究级共聚焦拉曼显微镜(Renishaw的InVia或Horiba的LabRam)组成,置于单个刚性、抗振动一体化的减震平台上。此配置既保留了各个仪器的全部功能,还提供最佳的组合性能。例如,该配置支持Dimension Icon系统的所有功能,包括各种AFM成像模式和极其易用的布鲁克专用的ScanAsyst®。您可以为您的应用程序定制最有效的组合模式。
测试可以在在几秒钟内在两种技术之间切换,而不会造成干扰。联用系统可以连续对同一样品区域进行 AFM 和光谱测量,而不会造成要错位或不精确定位。使用MIRO®功能可以很容易地将同一区域地拉曼成像结果与AFM图像实现覆盖。各种图像(形貌图、模量图和粘附力图)可以叠加在化学分布图上,以提供被检查区域的全面相关信息。
凭借一整套出色的AFM成像模式,布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套 AFM测试模式,允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式,已被应用到多种测量模式中,能同时提供形貌、电学和力学性能数据。