原子力显微镜

Dimension FastScan 原子力显微镜

多功能的高速 AFM

Dimension FastScan

Dimension FastScan® 原子力显微镜 (AFM) 系统经过专门设计,在不降低分辨率、不失去力控制、不增加设备复杂性,不带来繁琐操作的前提下,即可实现快速扫描。使用 FastScan,您可以即时快速地获得 AFM 图像,实现高性能 AFM 的预期高分辨率。无论您是以 >125Hz 扫描样品表面寻找查找感兴趣的区域时,或是在气相或流体中以每秒 1 秒的速率采集AFM图像,都能用FastScan得到优异的高分辨图像。Dimension FastScan这一变革性技术重新定义了 AFM 仪器的使用体验。

拒绝妥协
高速性能
随时随地在任何尺寸的样品上进行最高分辨率成像
实时
纳米尺度动力学
终极快速和稳定的针尖扫描模式直接展现了气相和液相中的动态行为
自动化
设置、数据采集和分析
惊人的操作简易性,杰出的生产力,让用户能专注于自己的研究工作。
特征

高速、高分辨率原子力显微镜的标杆

Dimension FastScan 是高速针尖扫描原子力显微镜系统。Dimension FastScan 能在各种尺寸的样品上实现高达每秒一帧的扫描速率,而不牺牲分辨率或任何仪器性能。结合 峰值力®轻敲模式,Dimension FastScan 使用线性控制回路实现了实时的力测量,从而在各种刚度的样品表面上,无论是坚硬平滑的晶体表面还是柔软粗糙的聚合物表面上,都能获得高分辨的形貌及力学性能。

点缺陷分辨率的方解石的刚度图像。图像尺寸为15 nm(面板 1)。亚分子分辨率级别的iPMMA 薄膜的粘附力分布图像。 图像大小为100 nm(面板 2)。样品由马丁-卢瑟-哈勒-维滕贝格大学的瑟恩-阿尔布雷希特教授提供。

卓越的生产力

在十分钟内对六个不同样本进行完全自动采集、自动优化的成像,获得可发表的高质量数据。

Dimension FastScan 的每个方面(包括开放的大样品台设计和预先优化的软件设置)都经过专门设计,实现极其简易的操作。快速找寻样品、快速进针、快速扫描、低噪音、极低的漂移速率(低至200 pm每分钟)、扩展性极强的直观用户界面,再与世界知名的 Dimension 大样品台相结合,Dimension FastScan为操作者提供了全新的AFM使用体验,更快地得到可供发表的数据。无须经过繁复的调整和优化,Dimension FastScan的 用户可以立即获得高质量的结果。

快速开发新应用和获得新信息

样品搜寻是探索未知样本以了解其区域异质性、特征区域特性以及机械性质的常用方法。以下是 FastScan 抽样调查的结果,该调查生成了一组高质量图像,从 20 μm 的高分辨率整体形貌到比原始扫描范围小 10 倍的局部。从一次仅需花费8分钟的扫描中可以得到多个通道高分辨数据,每条数据通道均打到了 1600 万像,可以清晰地揭示样品的各种性质。

研究在制备在疏水硅片表面的聚苯乙烯薄膜(厚度低于100 nm)上驱动润湿和脱水的驱动力
无定形药物配方研究,在60分钟内捕获60个位点。样品由来自瑞士巴塞尔M.E.劳尔,O.格拉斯曼,F.霍夫曼-拉罗什提供。

Powered by the NanoScope 6 AFM Controller


Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.

NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:

  • Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
  • Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
  • Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.

Contact us to discuss your measurement requirements and options for system specialization, or submit a sample run request to learn how a Bruker AFM is best suited for your applications.

AFM 模式

用AFM拓展您的应用

凭借一整套出色的AFM成像模式,布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。

基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套 AFM测试模式,允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式,已被应用到多种测量模式中,能同时提供形貌、电学和力学性能数据。

Software

Powered by the NanoScope 6 AFM Controller

Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.

NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:

  • Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis
  • Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application
  • Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements
  • Provide ultimate ease of use with Bruker’s exclusive ScanAsyst® Plus self-optimizing imaging software with enhanced intelligent algorithms and patent-pending smart functionality (find out if your Bruker AFM is eligible for the free ScanAsyst Plus upgrade here)
推荐

听听客户怎么说

我们已经使用布鲁克快扫描AFM超过两年。 根据我们的经验,Fastscan 图像速度比其他 AFM 快四到五倍,而不会降低分辨率。 此外,ScanAsyst 模式具有智能自动扫描参数调整功能,使我们能够轻松快速扫描许多样本。 卓越的 Fastscan AFM 性能在 DNA 纳米技术研究领域拥有许多出版物,使集团的声誉更胜一筹。

肖守军博士,南京大学,南京中国

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