Dimension HPI
Dimension HPI 系统专为大批量、大生产环境而设计，支持多种 AFM 模式进行自动化测量，具有简单易用性，并能实现在质量控制、质量保证和失效分析中的最低检测成本。Dimension HPI 使用接触、轻敲和 峰值力轻敲模式技术，使用户能够精确控制探针和样品的相互作用力，从而延长探针寿命，并且在数千次测量中保持测量的准确性。
广泛的测量范围
从传统的AFM扫描模式到独有的 PeakForce 峰值力模式，Dimension HPI 提供灵活的选项，可满足各种样品在特定制造工程中对测量的需求，而不受通常 AFM 用于研究时的设置复杂性的限制。
快速纳米电气计量
快速扫描技术和导电力显微镜 （CAFM）结合可以在高扫描速率下测量纳米级的电流，显著提高失效分析的效率。FastScan HPI 利用峰值力轻敲模式下的磁力显微镜技术，可以在不影响磁力显微镜精度的情况下将扫描速度增大10倍。PeakForce KPFM™提供最高的空间分辨率和最精确的表面电位测量。PeakForceTUNA 提供灵敏的导电性测量。
精确的纳米力学性能表征
布鲁克独特的 PeakForce QNM 和 FastForce Volume™ 模式可以精确测量材料的力学性能 - 模量、刚度、粘附性、耗散和形变量，同时对样品形貌和电学特性进行成像。PeakForce QNM 支持对聚合物、薄膜和纳米缺陷进行非破坏性测量，这些缺陷无法通过TEM或SEM技术进行测量。
Powered by the NanoScope 6 AFM Controller
Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.
NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:
- Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
- Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
- Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.