원자력 현미경

Dimension HPI

가장 생산적인 산업용 R&D AFM

Dimension HPI

대량의 생산 환경을 위해 특별히 설계된 Dimension HPI 시스템은 많은 AFM 모드의 자동화된 측정을 가능하게 하는 동시에 품질 관리, 품질 보증 및 고장 분석을 위해 측정당 최대한의 사용 편의성과 측정당 최저 비용을 보장합니다. Dimension HPI는 접촉, Tapping 및 PeakForce Tapping 모드 기술을 사용하여 사용자가 프로브 대 샘플 상호 작용을 정밀하게 제어할 수 있게 해주며, 높은 정확도로 긴 팁 수명을 제공하여 수천 개의 측정을 수행할 수 있습니다.

혁신적인
피크포스 태핑
샘플 보호, 확장된 프로브 수명 및 가장 일관된 측정을 위해 프로브의 측면 힘을 최소화합니다.
독점적인
FastScan AFM 프로브
측정당 최저 비용을 제공하고 가장 신뢰할 수 있는 데이터를 보장합니다.
사용하기 쉬운
자동화된 소프트웨어
모든 사용자를 AFM 전문가로 만들고 연산자 간 일관성을 보장합니다.
기능

가장 넓은 범위의 측정

전용 PeakForce 태핑 모드에서 기존 AFM 모드에 이르기까지 Dimension HPI는 AFM 연구 설정과 관련된 복잡성 없이 광범위한 샘플에서 특정 제조 계측 요구를 충족할 수 있는 가장 큰 범위와 유연성을 제공합니다.

빠른 나노 전기 계측

전도성-AFM(CAFM)을 갖춘 FastScan 기술은 높은 스캔 속도로 나노 스케일 전류 측정을 수행할 수 있어 고장 분석 측정의 효율성을 크게 높일 수 있습니다. FastScan HPI는 소형 자기력 현미경 검사법(MFM) 캔틸레버를 사용하여 PeakForce 태핑을 사용하여 뛰어난 데이터 품질을 갖춘 MFM 애플리케이션에 대해 10배 이상의 스캔 속도 향상을 제공합니다. PeakForce KPFM™ 표면 전위의 가장 높은 공간 해상도와 가장 정확한 측정을 제공합니다. PeakForce TUNA™ 가장 민감한 전도도 측정을 제공합니다.

정밀한 나노 기계 매핑

브루커의 고유한 PeakForce QNM 및 FastForce Volume™ 나노스케일 기계 매핑 모드는 계금, 강성, 접착, 분리 및 변형과 같은 기계적 특성을 정확하게 매핑하는 동시에 샘플 지형 및 전기 적 특성을 이미징할 수 있습니다. PeakForce QNM은 송전 전자 또는 스캐닝 전자 현미경 검사 기법에 의해 측정할 수 없는 폴리머, 박막 및 나노 스케일 결함에 대한 비파괴적 측정을 가능하게 합니다.

Powered by the NanoScope 6 AFM Controller


Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.

NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:

  • Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
  • Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
  • Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.

Contact us to discuss your measurement requirements, the systems best-suited to your applications, and options for system specialization, or submit a sample run request to validate that a Bruker AFM will meet your specific needs.

전문가에게 문의하십시오.

문의

Input value is invalid.

* Please fill out the mandatory fields.

Please enter your first name
Please enter your last name
Please enter your e-mail address
Please enter your Company/Institution

     

Please enter a valid phone number

ⓘ Used to provide a faster response to your request/question.

Please enter a valid phone number

ⓘ Used to provide a faster response to your request/question.

Please enter a valid phone number

ⓘ Used to provide a faster response to your request/question.

Please enter a valid phone number

ⓘ Used to provide a faster response to your request/question.

Please add me to your email subscription list so I can receive webinar invitations, product announcements and events near me.
Please accept the Terms and Conditions

             Privacy Notice   Terms of Use