孔径管理系统 （AMS）
表面不平整样品的定性分析
micro-XRF 的一个关键优势是基本无需样品制备。然而，在测试中需要尽量选择平整平面聚焦测试。许多样品表面并非完全平整，也不能改变破坏（如重要历史文物）。对于具有表面不平整样品进行定性分析（例如面扫描或线扫描），部分表面会在焦点平面之外，无法聚焦。孔径管理系统 （AMS） 旨在增加景深。就像光学成像一样，镜头前的光圈会增加景深，但原因却大相径庭。因此，即使对于表面起伏较大的样品，大多数结构仍然可实现聚焦，即在焦点平面内进行测试。
AMS 工作原理草图。通过只允许最内层的毛细血管传输 X 射线，光束的发散减少，景深增加。
来自巴西的祖母绿水晶。晶体的直径>1cm。焦平面位于样品上部三分之一处。如果没有 AMS，晶体的许多部分都无法聚焦于同一平面，并且显得模糊不清。
在不更改示例位置的情况下，使用 AMS 重新使用地图。焦深增加，大部分样品现在显得很锋利。
