Das Blendenmanagement (Aperture Management System - AMS)
Qualitative Analyse topografischer Proben
Ein wesentlicher Vorteil der Mikro-RFA sind die minimalen Anforderungen an die Probenvorbereitung. Dennoch muss eine Untersuchungsebene für die Messungen definiert werden. Viele Proben sind nicht perfekt planar und können auch nicht verändert werden (z. B. wichtige historische Museumsstücke). Bei der qualitativen Analyse (z. B. Mappings oder Linenprofile) von topografischen Proben werden Teile der Oberfläche außerhalb der Fokusebene liegen. Das Blendenmanagement AMS dient der Erhöhung der Schärfentiefe. Genau wie bei der optischen Bildgebung - aber aus ganz anderen Gründen - erhöht eine Blende vor der Linse die Schärfentiefe. Damit bleiben auch bei Proben mit hoher Topografie die meisten Strukturen scharf, d. h. innerhalb der Fokusebene.
Skizze des Funktionsprinzips von AMS. Indem nur die innersten Kapillaren Röntgenstrahlen durchlassen, wird die Divergenz des Strahls verringert und die Tiefenschärfe erhöht.
Ein Smaragdkristall aus Brasilien. Die Kristalle haben einen Durchmesser von > 1 cm. Die Fokusebene liegt im oberen Drittel des obersten Kristalls. Ohne AMS sind viele Teile des Kristalls außerhalb der Fokusebene und damit unscharf.
Ohne Änderung der Probenposition wurde das Map mit dem AMS neu erstellt. Die Schärfentiefe ist erhöht und der größte Teil der Probe erscheint jetzt scharf.
