M6 JETSTREAM

2 x 60

mm2

SDD 面积

双硅漂移探测器，可快速获取样品元素信息

80 x 60

cm2

可扫描面积

单次面扫描最大面积

100-500

μm

可调节光斑大小

五种光斑尺寸可调以便更好的匹配样品

最先进的大面积微区XRF元素成像技术

微区XRF（也称为macroXRF或MA-XRF）分析，已成为表征绘画、地质样品、考古文物和工业成分等对大型样品的重要方法。M6 JETSTREAM 以最高速度和精度进行微区X荧光分析。因为其具有方向可调节以可移动式支架，使得M6 JETSTREAM 可在现场使用，无需将部分无法运输样品送至实验室检测。

垂直样品或水平表面的测量
单次描面积高达 800 x 600 mm2
"On the fly"分析，以达到最高的面扫描速度
可调节光斑大小以匹配样品尺寸
XFlash® SDD 技术，具有2 x 60 mm2 的探测器面积
可选 AMS 系统，以对不平整表面聚焦

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M6 JETSTREAM 能够帮您获得那哪些信息？

Micro-XRF Study of the Troodontid Dinosaur Jianianhualong Tengi Reveals New Biological and Taphonomical Signals, Jinhua Li et. al, Atomic Spectroscopy 2021 42(1)

获取任意平面内元素的空间分布信息
在一次运行中采集整个大面积区域元素分布信息
将高分辨率光学图像与光谱存储在一个" HyperMap "数据集中
从面扫描中结果提取任意形状对象光谱、线扫描和化学相态进行进一步分析
使用无标准基本参数（FP）方法定量分析光谱数据
设备可在现场进行检测，能够有效降低成本节约时间，并且能够避免因物流等因素对贵重文物样品造成损坏

发现广泛的 mico-XRF 样品

技术参数

高达 100 mm/s 平台移动速度	面扫描以"on the fly" 方式进行，单个像素点停留时间可低至 1 ms
30mm2 或 60mm2 SDD，≤ 145 eV	M6 JETSTREAM 可配备不同的Bruker XFlash （R）探测器，所有探测器分辨率均在 Mn Kα ≤145 eV
测量模式下的倾斜角度可为± 10°	设备除了支持在水平和垂直方式测试外，设备还可以精细倾斜角度，以适应不同角度样品测试