M6 JETSTREAM

2x60

mm²

SDD-Fläche

Option für zwei Silizium-Drift-Detektoren für schnellste Datenaufnahme

80x60

cm²

Scannbare Oberfläche

Mapping größerer Proben in einem Durchlauf

100-500

µm

Einstellbare Messfleckgröße

Die Spot-Größe kann in fünf Schritten an die Probenstruktur angepasst werden

Mikro-RFA nach allen Regeln der Kunst

Micro-XRF auf großen Proben (auch macro-XRF oder MA-XRF genannt) ist zu einer maßgeblichen Methode für die Analyse von Gemälden, geologischen Proben, archäologischen Artefakten und industriellen Komponenten geworden. Das M6 JETSTREAM führt diese Analysen mit höchster Geschwindigkeit und Genauigkeit durch. Mit seinem fahrbaren Gestell und dem verstellbaren Rahmen kann das M6 JETSTREAM vor Ort eingesetzt werden, anstatt die Probe ins Labor zu transportieren.

Messung von aufrechten Proben oder horizontalen Oberflächen
Abtastbarer Bereich bis 800 x 600 mm²
"On the fly"-Analyse für höchste Mapping-Geschwindigkeit
Einstellbare Messfleckgröße zur Anpassung an die Struktur der Probe
XFlash® SDD-Technologie mit bis zu 2 x 60 mm² Detektorfläche
Optionales Blendenmanagementsystem (AMS) zur Verbesserung der Tiefenschärfe auf unebenen Oberflächen

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Was können Sie vom M6 JETSTREAM erwarten?

Micro-XRF Study of the Troodontid Dinosaur Jianianhualong Tengi Reveals New Biological and Taphonomical Signals, Jinhua Li et. al, Atomic Spectroscopy 2021 42(1)

Räumlich aufgelöste Informationen über die Elementverteilung fast jeder Oberfläche
Aufnahme von Daten über große Bereiche in einem Durchlauf
Kombination von hochauflösenden optischen Bildern mit einem kompletten Spektrum pro Pixel in einem HyperMap-Datensatz
Verarbeitung der Daten und Extraktion von Objektspektren, Linienscans und chemischen Phasen aus einem Map
Quantifizierung von Spektren mit standardfreien Fundamentalparameter-Methoden (FP)
Minimierung von Kosten und Zeit durch Vermeidung von Logistikaufwand bei der Gewährleistung der Sicherheit wertvoller Objekte

Entdecken Sie die breite Palette von mikro-RFA Proben

Technische Details

Bis zu 100 mm/s Abtastgeschwindigkeit	Ein Mapping kann "on the fly" mit Verweilzeiten bis zu 1 ms pro Pixel durchgeführt werden.
30mm² oder 60mm² SDDs mit ≤145 eV	Das M6 JETSTREAM kann mit verschiedenen Bruker XFlash®-Detektoren ausgestattet werden, alle spezifiziert auf ≤145 eV bei Mn Kα.
±10°-Neigung im vertikalen Messmodus	Zusätzlich zur 90°-Kippung zwischen horizontaler und vertikaler Messung kann das Gestell in kleinen Schritten geneigt und an schräge Oberflächen angepasst werden.