OPTIMUS TKD 探测器头
布鲁克的高性能 eFlash EBSD 系列探测器现在可配置 OPTIMUS ™ TKD 探头。OPTIMUS ™ TKD 探头专为 SEM 中同轴透射菊池衍射分析（同轴 TKD）最佳的样品与探测器几何构型而设计。OPTIMUS ™ TKD 探头具有无与伦比的灵敏度，不仅可以采集菊池花样，甚至还可以提供类似 SAED（选区电子衍射）的图样。
至少 2 nm 空间分辨率的晶粒取向分布图
与垂直磷屏设置相比，在样品正下方的水平磷屏有两个主要优势：
- 信号强度增加了一个数量级
- 菊池花样的畸变被有效抑制
更强的信号，可以让我们选择小光阑来采集取向分布图，从而提高空间分辨率。各种材料的同轴 TKD 实验数据结果表明，在使用高端 FE-SEM 时，其有效空间分辨率可达 2 nm 甚至更好。同时，在低加速度电压（5 kV）下进行同轴 TKD 测试也成为可能。较低的电压有助于降低平均自由程，从而提升菊池衍射的信号量。这在分析薄样品和"轻元素"样品时非常有用。此外，由球心投影引起的菊池花样畸变是 EBSD 中常见的问题，尤其影响使用垂直磷屏采集信号的离轴 TKD 技术。
然而，对于OPTIMUS ™ TKD 来说，磷屏的中心与图案中心完全匹配，实现了最理想的几何构型，在信号采集方面甚至比常规 EBSD 的几何构型更好。最终采集的菊池花样几乎不存在畸变，这显著提高了菊池条带的检测和随后的标定准确性。
AGUS ™ FSE 成像系统
OPTIMUS™ TKD 配备ARGUS ™™成像系统，可实现惊艳的类暗场像和类明场像，图像细节可提升至纳米尺度，在实际应用中几乎将您的 SEM 转变为"低电压版本的 TEM"。ARGUS™可在变形材料中可用于显示单个位错和位错网。类暗场像图像更能展示晶界面位置和倾角的三维信息。
易用性
每个现有的eFlash探测器都可以配备 OPTIMUS™ ™ TKD 探测器头。训练有素的用户可以在 10-15 分钟内轻松完成交换。这允许随时随地在 EBSD 和 TKD 模式之间轻松快速切换。OPTIMUS™ TKD 具有布鲁克先进的碰撞保护系统：在不太可能发生碰撞时，探测器会立即以 10 mm/s 的速度缩回，从而显著降低任何损坏的风险。OPTIMUS™ TKD 探测器头与布鲁克的 SEM TKD 专业工具包无缝集成，包括 TKD 采样架、XFlash® EDS 探测器系列，用于 TKD/EDS 同步测量和 ESPRIT 2 分析软件。
