Cabezal detector OPTIMUS TKD
La serie de detectores eFlash EBSD de alto rendimiento de Bruker ahora se puede configurar con el cabezal detector OPTIMUS™ TKD, que fue diseñado específicamente para la mejor geometría de detector de muestras para el análisis de difracción Kikuchi de transmisión en el eje (TKD) en SEM. El cabezal detector no sólo adquiere patrones Kikuchi con una sensibilidad sin igual, sino que incluso proporciona acceso a SAED (Difracción de Electrones de área seleccionada) como patrones.
Mapeo de orientación con una resolución espacial de al menos 2 nm
La posición de la pantalla de fósforo horizontal debajo de una muestra tiene dos ventajas principales en comparación con la configuración estándar vertical:
- un orden de magnitud señal más fuerte
- más bajas posibles distorsiones de proyección gnomónica
La señal significativamente más fuerte permite adquirir mapas de orientación con pequeñas aperturas, lo que permite una mejor resolución espacial. Los resultados en diversos materiales indican una resolución espacial efectiva de 2 nm o mejor cuando se utiliza un FE-SEM de gama alta. También es posible trabajar a bajas tensiones de aceleración de hasta 5 kV. Esto ayuda a reducir el camino libre medio y así aumentar el rendimiento de la señal de difracción de Kikuchi. Esto es extremadamente útil cuando se analizan muestras delgadas y "ligeras". Las distorsiones causadas por la proyección gnomónica son un problema común en EBSD y afectan especialmente al análisis de TKD cuando se utiliza la pantalla de fósforo vertical.
Sin embargo, OPTIMUS™ TKD permite hacer coincidir exactamente el centro de la pantalla de fósforo con el centro de patrón, lo que permite condiciones geométricas ideales, mejor incluso que lo que ofrece la geometría EBSD estándar. Los patrones Kikuchi resultantes tienen distorsiones mínimas que mejoran significativamente la detección de bandas y la precisión de indexación posterior.
ARGUS™ sistema de imágenes FSE
OPTIMUS™ TKD está equipado con el sistema de imágenes ARGUS™ que permite brillantes campos oscuros y brillantes como imágenes con detalles hasta la escala nanómetro, transformando prácticamente su SEM en un "TEM de bajo kV". ARGUS™ se puede utilizar para mostrar dislocaciones individuales y redes de muros de luxación en materiales deformados. Las imágenes de Campo oscuro como muestran información 3D sobre la posición y la inclinación del plano fronterizo.
Facilidad de uso
Cada detector eFlash existente puede equiparse con el cabezal detector OPTIMUS™ TKD. El intercambio se puede hacer fácilmente en menos de 10-15 minutos por un usuario capacitado. Esto permite un cambio fácil y rápido entre el modo EBSD y TKD siempre que sea necesario. OPTIMUS™ TKD cuenta con el avanzado sistema de protección contra colisiones de Bruker: en el improbable caso de colisión, el detector se retrae inmediatamente a una velocidad de 10 mm/s, lo que reduce significativamente los riesgos de cualquier daño. El cabezal detector OPTIMUS™ TKD funciona perfectamente con el TKD Professional Toolkit de Bruker para SEM, incluido el portacólogo TKD, la serie de detectores XFlash® EDS para mediciones simultáneas de TKD/EDS y la suite de software analítico ESPRIT 2.
