Innova-IRIS
Innova-IRIS는 업계 최고의 AFM 성능과 브루커 전용 TERS 프로브를 결합하여 세계에서 유일하게 완전하고 보장된 팁 강화 라만 분광법(TERS) 솔루션을 제공합니다. 그것은 완전히 각 별도의 구성 요소의 기능을 보존하면서, 완전히 각 별도의 구성 요소의 기능을 유지하면서, InVia 마이크로 라만 시스템과 원활하게 병합. 그 결과 AFM 애플리케이션의 경계를 나노스펙트로스코프 및 나노화학 적 분석에 확장하는 상관 관계가 있는 마이크로 및 나노스케일 특성 매핑을 위한 생산적이고 완벽하게 통합된 플랫폼이 생성됩니다.
TERS를 사용하도록 특별히 설계
게시 레코드는 오프축 반사 지오메트리가 팁 섀도우 및 편광 효과를 완벽하게 고려하면서 광 캡처를 최대화하는 데 가장 적합한 솔루션임을 증명합니다. Innova-IRIS는 프로브 의 전면에서 팁 샘플 접합에 액세스하여 장애물이 없는 이상적인 광학 경로를 제공하는 새로운 광학 아키텍처를 활용합니다. 브루커 이노바 샘플 스캐닝 AFM과 레니쇼 인비아 마이크로 라만 시스템을 공동 설계한 통합은 통합 TERS 이미징에 대한 엄격한 요구 사항을 가능하게 하기 위해 스캐닝 중에 광학 "핫스팟" 정렬을 독특하게 유지합니다. 팁 무결성 및 포지셔닝은 이러한 민감한 연구에 필요한 긴 신호 통합 시간에 걸쳐 유지됩니다.
상호 보완 데이터의 상관 관계
InVia의 Renishaw와 의 Innova-IRIS 통합은 AFM과 라만 현미경 모두의 타협하지 않는 성능, 전력 및 유연성을 완벽하게 보존합니다. 각 제품은 고유한 전문 실시간 제어 및 데이터 분석 패키지를 활용합니다. 그 결과 상호 보완적인 나노스케일 지형, 열, 전기 및 기계적 정보의 상관관계를 가능하게 하는 단일 통합 시스템이 생성됩니다.
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TERS 애플리케이션에 최적화
