Bruker의 특허 받은 태핑 AFM-IR 모드는 나노 스케일 IR 기술에서 가장 진보된 개발로 화학 이미징에 가장 높은 공간 해상도를 제공하여 단층 측정 감도를 구현하고 나노IR의 적용을 더 넓은 범위의 샘플로 확장합니다.
특허받은 공진 강화 AFM-IR 기술을 도청 모드 조작으로 확장함으로써 AFM-IR을 탭하면 나노스케일 IR 분광법의 성능 한계를 확장합니다. 또한, 탭 AFM-IR과 특허 FASTspectra 기능의 조합은 FTIR 라이브러리와 직접적인 상관 관계가있는 가장 진보 된 최고 성능의 나노 스케일 IR 분광학 기능을 사용자에게 제공합니다.
고해상도 고감도 태핑 AFM-IR은 10nm까지 화학 적 기능을 해결하기 위해 측정 해상도를 향상시키는 특허 를 획득했습니다. 많은 응용 프로그램의 경우 AFM-IR을 탭하는 것은 이제 프로브의 해상도에 의해서만 제한됩니다. 공명 강화 AFM-IR은 표면 층의 가장 얇은에 화학 분석을 가능하게 하는 단층 감도를 지속적으로 입증했습니다.
AFM-IR을 탭하면 성능 저하 없이 일반적인 화학 이미징 속도가 10배 향상되므로 고해상도 이미징을 더 빠르게 달성하거나 동일한 시간에 더 많은 데이터를 사용할 수 있습니다.
탭 AFM-IR과 FASTspectra의 조합은 나노 스케일 IR 분광법에 사용할 수있는 최고 성능을 제공, 새로운 발견을 만들기 위해 경계를 확장. FASTspectra AFM-IR 기반 분광법은 단순히 사용할 수있는 가장 강력한 나노 스케일 IR 분광 기능입니다. 뛰어난 스펙트럼 해상도와 높은 감도를 가지고 있어 전송 기반 FTIR와 직접적인 상관 관계가 있는 풍부한 상세한 스펙트럼을 제공합니다.
AFM-IR을 탭하면 광범위한 재료 유형을 해결하고 접합 모드에서 가장 적합한 것 이상으로 기능을 확장합니다. 새로운 연구 가능성은 이제 더 부드러운 측정 접근 방식으로 인해 생명 과학, 나노 입자 및 부드러운 폴리머 재료와 같은 광범위한 분야에서 사용할 수 있습니다.