Le mode Tapping AFM-IR breveté de Bruker est le développement le plus avancé de la technologie IR à l’échelle nanométrique, offrant la résolution spatiale la plus élevée pour l’imagerie chimique, permettant une sensibilité à la mesure des monocouches et étend les applications du nanoIR à un plus large éventail d’échantillons.
En élargissant notre technique brevetée Resonance Enhanced AFM-IR pour inclure le fonctionnement du mode de tapping, Tapping AFM-IR étend les limites de la performance pour la spectroscopie IR à l’échelle nanométrique. En outre, la combinaison de tapping AFM-IR et de la capacité brevetée FASTspectra offre aux utilisateurs la capacité de spectroscopie IR à l’échelle nanométrique la plus avancée et la plus performante avec une corrélation directe avec les bibliothèques FTIR :
Haute résolution, haute sensibilité Tapping AFM-IR a breveté des caractéristiques qui améliorent la résolution de la mesure pour résoudre les caractéristiques chimiques jusqu’à 10nm. Pour de nombreuses applications, tapping AFM-IR n’est désormais limité que par la résolution de la sonde. L’AFM-IR amélioré par résonance a continuellement démontré la sensibilité des monocouches pour permettre l’analyse chimique sur les couches de surface les plus minces.
Le fait d’appuyer sur AFM-IR améliore la vitesse typique de l’imagerie chimique de 10 x sans perte de performance, de sorte que vous pouvez atteindre l’imagerie haute résolution plus rapidement ou choisir de prendre plus de données dans le même laps de temps.
La combinaison de Tapping AFM-IR et FASTspectra offre les performances les plus élevées disponibles pour la spectroscopie IR à l’échelle nanométrique, en prolongeant la frontière pour faire de nouvelles découvertes. La spectroscopie à base d’AFM-IR de FASTspectra est tout simplement la plus puissante capacité de spectroscopie IR à l’échelle nanométrique disponible. Il a une excellente résolution spectrale et une sensibilité élevée, fournissant de riches spectres détaillés qui sont directement en corrélation avec la transmission basée sur FTIR.
L’appuyez sur AFM-IR aborde un large éventail de types de matériaux et étend les capacités au-delà de celles qui conviennent le mieux en mode contact. De nouvelles possibilités de recherche sont maintenant disponibles dans un large éventail de domaines, tels que les sciences de la vie, les nanoparticules et les matériaux polymères mous grâce à son approche de mesure plus douce.