나노 스케일 적외선 분광법

산란 SNOM

s-SNOM 기술은 샘플의 나노 스케일 영역의 복잡한 광학 특성에 대한 정보를 제공합니다.

적외선 산란 스캐닝 근장 광학 현미경 검사법 (s-SNOM)

이 기술은 야화 된 팁 아래 샘플의 나노 스케일 영역의 복잡한 광학 특성에 대한 정보를 제공합니다. 구체적으로, 산란된 빛의 광학 진폭및 위상을 모두 측정할 수 있다. 적절한 모델을 사용하면 이러한 측정은 재료의 복잡한 광학 상수(n, k)를 추정할 수 있습니다. 또한, 광상 대 파장은 통상적으로 방목발생률을 제공하는 기존의 IR 흡수 스펙트럼에 좋은 근사치를 제공한다.

S-SNOM 기술은 다양한 재료에서 작동하지만 소음에 가장 좋은 신호는 반사율이 높고 유전체 상수 및 /또는 강력한 광학 공명을 가진 단단한 재료에 있는 경향이 있습니다. Bruker의 nanoIR3-s는 s-SNOM 기능을 위한 이상적인 플랫폼을 제공하므로 복잡한 광학 정렬이 필요하지 않습니다.

특허받은 어댑티브 빔 스티어링과 모든 반사 광학은 광범위한 파장 호환성을 가능하게 하며, 다양한 파장에서 재정렬 및 재초점을 제거합니다.
특허받은 동적 전원 제어는 광범위한 소스, 파장 및 시료에 대해 최적의 전력및 신호를 유지합니다.
사전 장착된 프로브 및 전동 팁, 샘플 및 소스 정렬은 프로브 설치 및 재최적화에서 지루한 단계를 제거합니다.

10nm 공간 해상도 화학 이미징 및 분광법

그래핀 플라스모닉

s-SNOM 위상 및 그래 핀 웨지에 표면 플라스몬 폴라리톤 (SPP)의 진폭 이미지. (왼쪽) SPP 스탠딩 웨이브의 선 단면이 있는 s-SNOM 단계; (오른쪽) s-SNOM 진폭. 위쪽 이미지는 위상 이미지의 3D 뷰(왼쪽)입니다.

고해상도 속성 매핑

그래핀 플레이크를 통한 단면은 서브 10nm 해상도 광학 특성 이미징을 나타낸다.

최고 성능 나노 FTIR 분광법

가장 진보 된 나노 IR 레이저 소스를 사용할 수있는 최고 성능 IR SNOM 분광법.

통합 DFG, 연속체 기반 레이저 소스와 나노 FTIR 분광법
광대역 싱크로트론 광원 통합
분광및화학 영상용 멀티칩 QCL 레이저 소스

초고속 광대역 산란 SNOM 분광법 검사 분자 진동 정보. 폴리테트라플루오로틸렌(PTFE)의 레이저 간섭사진은 시간 영역(상단)에서 자유 유도 붕괴의 형태로 일관된 분자 진동을 나타낸다. 샘플 간섭영역에서 강조 표시된 기능은 주파수 도메인(왼쪽 아래)에서 C-F 모드의 대칭 및 반대칭 모드의 박동때문입니다. 나노-FTIR의 단층 감도는 단층 pNTP(오른쪽 하단)에서 입증된다. 미국 콜로라도 대학교 마르쿠스 라슈케 교수의 데이터 제공.

S-SNOM과 AFM-IR을 결합하여 놀라운 새 데이터 생성

카니카예프 외, 낫 콤 7, 12045 ('16). Doi:10.1038/ncomms12045

보완적인 AFM-IR 및 산란 SNOM 이미지는 플라스모닉 구조에 대한 광학 키랄리티의 미세 스케일 기원을 처음으로 보여줍니다. 플라스모닉 구조에 대한 방사성(s-SNOM) 및 비방사성(AFM-IR) 정보에 모두 액세스함으로써 독특하고 보완적인 플라스모닉 특성을 얻을 수 있다.