Dispersion SNOM
Balayage infrarouge de balayage nearfield Microscopie optique (s-SNOM)
Cette technique fournit des informations sur les propriétés optiques complexes de la région nanométrique de l’échantillon sous une pointe métallisée. Plus précisément, l’amplitude optique et la phase de la lumière dispersée peuvent être mesurées. Avec des modèles appropriés, ces mesures peuvent estimer les constantes optiques complexes (n, k) du matériau. En outre, la phase optique par rapport à la longueur d’onde fournit une bonne approximation à un spectre d’absorption d’IR classique habituellement pâturage incidence.
La technique s-SNOM fonctionne sur une variété de matériaux, mais le meilleur signal au bruit tend à être sur des matériaux plus durs avec une réflectivité élevée, des constantes diélectriques élevées, et / ou de fortes résonances optiques. Les nanoIR3 de Bruker offrent une plate-forme idéale pour les capacités s-SNOM, éliminant ainsi le besoin d’alignements optiques complexes :
- La direction de faisceau adaptative brevetée et toutes les optiques réfléchissantes permettent une large compatibilité de longueur d’onde tout en éliminant le réalignement et le recentrage à différentes longueurs d’onde
- Le contrôle de puissance dynamique breveté maintient la puissance et le signal optimaux sur une large gamme de sources, de longueurs d’onde et d’échantillons
- Les sondes pré-montées et l’alignement motorisé de pointe, d’échantillon et de source éliminent les étapes fastidieuses dans l’installation et la réa optimisation de la sonde
Imagerie chimique et spectroscopie chimiques à résolution spatiale de 10nm
Plasmonique de graphène
Mappage de propriétés haute résolution
Spectroscopie Nano FTIR de performance la plus performante
Spectroscopie IR SNOM de haute performance avec la source laser nanoIR la plus avancée disponible.
- spectroscopie nano FTIR avec DFG intégrée, source laser basée sur le continuum
- Intégration de la source lumineuse synchrotron à large bande
- Source laser QCL multi-puces pour spectroscopie et imagerie chimique
Combinez S-SNOM et AFM-IR pour créer de nouvelles données remarquables
Les images complémentaires AFM-IR et SNOM de diffusion révèlent, pour la première fois, les origines microcales de la chiralité optique sur les structures plasmoniques. En accédant à la fois à l’information radiative (s-SNOM) et non radiative (AFM-IR) sur les structures plasmoniques, on peut obtenir des propriétés plasmoniques uniques et complémentaires.
nanoIR3-s s’étend au-delà du nanoIR au faisceau visible et thz et synchrotron
- nanoIR3-s permet l’imagerie SNOM visible
- Le système prend en charge l’imagerie et la spectroscopie THz
- Conception spéciale disponible pour une utilisation en synchrotron
- Changement facile sur le laser mis en place pour maximiser le temps de mesure
- Simple échange de composants optiques et de détecteurs
Éliminer le besoin d’alignements optiques complexes
- La direction de faisceau adaptative brevetée et toutes les optiques réfléchissantes permettent une large compatibilité de longueur d’onde tout en éliminant le réalignement et le recentrage à différentes longueurs d’onde
- Le contrôle de puissance dynamique breveté maintient la puissance et le signal optimaux sur une large gamme de sources, de longueurs d’onde et d’échantillons
- Les sondes pré-montées et l’alignement motorisé de pointe, d’échantillon et de source éliminent les étapes fastidieuses dans l’installation et la réa optimisation de la sonde
