에스프리 이미징
간단한 이미지 수집에서 부터 완전한 기능을 갖춘 이미지 처리에 이르기까지 다양한 이미징 옵션
스캔 미리 보기 창이 있는 이미지 수집 모드
에스프리 스캔
외부 스캔 시스템을 갖춘 이미지 수집 소프트웨어 지원 기기:
- SEM, STEM 및 EPMA용 외부 전자 빔 제어, 모드 스위칭 및 이미지 수집
- IO 스캔 및 SEMLink용 드라이버
- 선택 가능한 아날로그 신호 소스(SE, BSE, HAADF 등)의 고품질 고해상도 디지털 이미지
- 스캔 영역 선택 및 빔 조정을 위한 빠른 미리 보기 모드
- 획득 시간, 이미지 해상도 및 스캔 모드의 독립적 선택
- 송전선 동기화(옵션)를 포함한 픽셀, 라인 및 프레임 평균
- 자동 및 수동 밝기, 콘트라스트 및 감마 보정
- 히스토그램 의 표시
- 구성 옵션을 포함한 μ 마커 및 이미지 범례 표시
에스프리 컬러스캔
X선 향상된 컬러 이미지 획득:
- X선 범위의 요소 사전 선택 또는 사전 설정이 없는 인스턴트 컬러 이미지
- 고해상도 전자 이미지에서 다양한 색상과 음영에 의한 위상의 직관적 인 차별
- 토폴로지와 화학 적 대비의 인상적인 조합
- 관심 지점 및 관심 영역을 쉽게 검색할 수 있습니다.
- 샘플 표면의 파티클, 아티팩트 또는 고유 영역 의 강조 표시
- 정확한 분석 결과를 위해 동질 영역 검색
- 이미지 품질 향상을 위한 프로그레시브 스캔
- 고속 XFlash® 검출기 시스템에 최적으로 적합
처리 및 레이블이 지정된 이미지
에스프리 비전
디지털 이미지 처리:
- 바이너화 및 반전을 포함한 구성 가능한 이미지 필터 선택
- 밝기, 콘트라스트 및 감마 보정
- 거짓 색상 표시
- B/W 및 색상 이미지 처리
- 마커, 범례 및 사용자 정의 그래픽에 대한 오버레이 이미지
- 그래픽 오버레이의 데이터 프레젠테이션을 통해 대화형 길이, 영역 및 각도 측정
- 내부 이미지 저장소 및 여러 "취소" 기능을 포함한 다단계 이미지 처리
- 모든 공통 그래픽 형식으로 이미지 가져오기 및 내보내기
- 트웨인 내보내기 및 윈도우 클립보드 지원
에스프리 스테레오 비전
3D 이미지 시각화 및 측정:
- 입체 이미지 쌍에서 3D 표면 토폴로지 재구성
- 비대칭 틸트(tilt)를 포함한 틸트 축의 자유로운 선택은 표준 SEM을 통해 이미지 수집을 용이하게 합니다.
- 적응형 이미지 비교 모드(anaglyphs, 차이 이미지 및 풀 프레임 상관 관계)
- 단일 점 깊이 계산, 선 프로파일 및 다중 점 작업
- 와이어 그리드, 그늘, 인공 텍스처 또는 변위 벡터에 의한 강력한 3D 결과 시각화
- 원본 데이터, 결과 및 설정을 포함한 완전히 재처리 가능한 프로젝트 데이터 베이스
에스프리 드리프트코르
- 측정을 시작할 때 획득한 이미지와 현재 이미지를 비교하여 스캔된 표본 영역의 이미지 이동을 보정합니다.
- 획득 시 외부 스캔 생성기를 자동으로 수정합니다.
- 현재 및 최대 시프트 값과 비교 프로세스의 품질을 표시합니다.
- 최대 보정 값을 초과하면 측정 중지
- 이미지 수집 기능 및 옵션 멀티포인트, 오브젝트, LineScan, 지도 및 하이퍼맵과 함께 작동