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ESPRIT イメージングソフトウエア
さまざまなイメージングオプション - シンプルな画像取得からフル機能の画像処理まで
スキャンプレビューウィンドウを使用した画像取得モード
ESPRIT Scan
外部スキャンシステムを備えた機器をサポートする画像取得ソフトウェア:
SEM、STEM、EPMAの外部電子ビーム制御、モード切り替え、画像取得
IOスキャンと SEMリンク用のドライバ
選択可能なアナログ信号源(SE、BSE、HAADFなど)からの高品質、高解像度デジタル画像
スキャン領域の選択とビーム調整のための高速プレビューモード
取得時間、画像解像度、スキャンモードの独立した選択
電力線の同期を含むピクセル、ライン、フレームの平均化(オプション)
自動および手動の明るさ、コントラストおよびガンマ訂正
ヒストグラムの表示
μマーカーと画像の凡例表示(設定オプションを含む)
ESPRIT ColorScan
X線が強調されたカラー画像の取得:
元素の事前選択やX線範囲の事前設定をせずにインスタントカラー画像を取得
高解像度電子画像における異なる色や色合いによる位相の直感的な識別
トポロジーと化学的なコントラストの組み合わせ
関心のあるポイントや領域を簡単に検索
サンプル表面の粒子、アーティファクト、または特定の領域のハイライト
正確な解析結果を得るための均質領域の検索
画質を向上させるプログレッシブスキャン
高速XFlash®検出器システムに最適
処理されラベル付けされた画像
ESPRIT Vision
デジタル画像処理:
バイナリ化と反転を含む構成可能なイメージフィルタの選択
明るさ、コントラスト、ガンマ補正
偽色表示
白黒とカラー画像処理
マーカー、凡例、ユーザー定義のグラフィックのオーバーレイ画像
グラフィカルオーバーレイでのデータ表示によるインタラクティブな長さ、面積、角度の計測
内部画像ストレージや複数の「元に戻す」機能を含む多段階画像処理
すべての一般的なグラフィック形式での画像のインポートとエクスポート
TwainエクスポートとWindowsクリップボードをサポート
ESPRIT Stereo Vision
3D画像の視覚化と測定:
立体画像ペアからの3D表面トポロジーの再構成
非対称の傾きを含むチルト軸の自由な選択により、標準的なSEMによるイメージ取得が容易
適応型画像比較モード(アナグリフ、差分画像、フルフレーム相関)
単一点深度計算、ラインプロファイル、およびマルチポイント演算
ワイヤーグリッド、シェーディング、人工テクスチャ、または変位ベクトルによる強力な3D結果の可視化
元のデータ、結果、設定を含む完全に再処理可能なプロジェクトデータベース
ESPRIT DriftCorr
現在の画像と測定開始時に取得した画像を比較することにより、スキャンしたサンプル領域の画像シフトを補正
取得時に外部スキャンジェネレータを自動的に修正
現在のシフト値と最大シフト値、比較プロセスの品質を表示
最大補正値を超えた場合に測定を停止
画像取得機能とマルチポイント、オブジェクト、ラインスキャン、マップ、ハイパーマップなどのオプションとの組み合わせで動作