엑스레이 분광기를 가진 개별 이종성 식별
나노 스케일 재료의 개별 이종은 종종 재료 특성에 중추적 인 역할을합니다. 재료 특성에 대한 최대 제어를 얻으려면 연구원은 다양한 두께와 구성을 가진 샘플에서 다양한 이종모를 감지하고 식별 할 수 있어야합니다. 여기서, 우리는 스캐닝 전송 전자 현미경에서 에너지 분산 X 선 분광법을 가진 2상 탄산 나노 스케일 혼합물에서 개별 Si, S, P 및 Ca 이종원자의 식별을 보여줍니다. 단일 원자 분광에 대한 전자 에너지 손실 분광기에 비해 기술의 견고성과 잠재적 이점을 충분히 입증하기 위해 시료 두께 또는 이종 종의 유형에 우선 제약조건이 적용되지 않았습니다. 다양한 이종은 8~57s에 이르는 X선 스펙트럼 수집 시간, 정규화된 수량0.096-0.007카운트s-1 pA-1로확인되었다. 가장 낮은 시간/가장 효과적인 카운트 비율은 전자 빔 래스터의 오버샘플링 영역을 최소화하여 원자에 효과적인 거주 시간을 최대화함으로써 달성되었습니다.
자세히 알아보기: X선 분광법으로 개별 이성술 식별(오픈 액세스)
응용 물리학 편지 볼륨 108, 문제 16, 163101 (2016); 저자: R.M. 스트라우드, T.C. 러브조이, M. 팔케, N. D. 바심, G. J. 코빈, N. 델비, P. Hrncirik, A. 카펠, M. Noack, 더블유 한, M. 로데, 그리고 O. L. Krivanek