X 射线光谱单异原子的识别
纳米级材料中的单个异原子在材料性能中往往起着关键作用。为了获得对材料性质的最大控制，研究人员必须能够检测和识别不同厚度和成分的样品中的各种异原子。
在这个案例中，我们演示了在扫描透射电子显微镜中，用EDS 在双相碳质纳米尺度混合物中对单个Si、S、P和Ca 异原子的识别。为了充分展示该技术的鲁棒性和与EELS 在单原子谱中的潜在优势，我们发现EDS 技术对样品厚度或异原子物种类型没有约束条件。各种异原子被 EDS 识别所需时间从8到57s 不等，归一化计数率为0.096~0.007 counts s-1 pA-1。通过最大限度地利用在原子的有效停留时间，最小化电子束栅格的过采样面积，实现了最低的采集时间/最高的有效计数率。
了解更多：Individual heteroatom identification with X-ray spectroscopy (Open Access)
Applied Physics Letter Volume 108, Issue 16, 163101 (2016); Authors: R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde, and O. L. Krivanek