X線分光法による個別の異原子同定
ナノスケール材料における個々のヘテロ原子は、材料特性において重要な役割を果たすことがよくあります。材料特性を最大限に制御するには、研究者は、様々な厚さと組成を有するサンプル中の多様な異種を検出し、同定できる必要があります。ここではSTEMでのEDX測定を用いて、2相炭素質ナノスケール混合物における個々のSi, S, PおよびCaヘテロ原子の同定を実証します。この技術のロバスト性と、単原子の種分化に対するEELSの潜在的な利点を十分に実証するために、サンプルの厚さやヘテロ原子種の種類に対する事前の制約を設けませんでした。さまざまなヘテロ原子は、8~57秒の範囲のX線スペクトル収集時間で同定され、正規化されたカウント率は0.096~0.007カウント/秒pAでした。最小時間/最大有効カウント率は、電子ビームラスターのオーバーサンプリング領域を最小限に抑え、原子の有効ドウェル時間を最大化することによって達成されました。
詳細：Individual heteroatom identification with X-ray spectroscopy (Open Access)
Applied Physics Letter Volume 108, Issue 16, 163101 (2016); Authors: R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde, and O. L. Krivanek