XFlash 6-60
나노 분석을 위한 넓은 영역 SDD
XFlash 6-60 검출기
대형 액티브 영역 60mm2 칩과 슬림 라인 검출기 손가락은 큰 단색 각도를 제공합니다. XFlash® 6-60은 나노 분석 영역에서 흔히 볼 수 있듯이 상대적으로 낮은 X선 수율을 가진 응용 분야에서 사용하기 위한 운명입니다. 검출기는 또한 Mn Kα에서 126 eV와 C 및 F 해상도로 매우 좋은 에너지 해상도를 제공하므로 이 분야에서 요구 사항인 저에너지 범위에서 도 편안하게 사용할 수 있습니다.
요약하면 XFlash® 6-60은 다음과 같은 장점을 제공합니다.
- 매우 좋은 에너지 해상도 (Mn Kα에서 126 eV, C Kα에서 51 eV, F Kα에서 60 eV 가능)
- 기타 사용 가능한 해상도는 Mn Kα에서 129 eV입니다.
- 매우 높은 펄스 부하 기능
- 우수한 광 원소 및 낮은 에너지 성능 (요소 범위 Be - Am)
- 정교한 진동 발생 냉각 시스템 없음
- 전원 켜기 직후 사용 가능
- 낮은 운영 비용
- 유지보수 가 없는 작동
- 슬림 라인 기술 손가락을 포함한 작은 치수
- 저중량
XFlash® 6-60에 대한 응용 프로그램의 권장 영역은 다음과 같습니다.
- SEM, 마이크로 프로브, FIB-SEM용 EDS 시스템(옵션으로 제공되는 용접 벨로우즈)
- eFlash FS와 결합된 EDS 및 고해상도 EBSD 분석
- 나노 분석