XFlash 6-60
用于纳米分析的大面积SDD
XFlash 6-60 探测器
60 mm2大有效面积芯片与细管径技术探测器手指一起提供大固体角。因此，XFlash® 6-60 的性能可用于 X 射线产量相对较低的应用，即纳米分析领域。该探测器还可提供极高的能量分辨率，比如 Mn Kα 126 eV ，因此它也可以在低能端内轻松适用。
总结起来，XFlash® 6-60 具有以下优点：
- 非常好的能量分辨率（Mn Kα 为 126 eV，C Kα 为 51 eV，F Kα 为 60 eV）
- 其他可用分辨率为 Mn Kα 的 129 eV
- 极高的脉冲负载能力
- 出色的轻元素和低能端检测性能（Be - Am 元素范围）
- 简单，无震动设计的冷却系统
- 打开电源后立即可用
- 低运行成本
- 免维护操作
- 小尺寸，包括细管径技术
- 重量轻
XFlash® 6-60建议的应用领域包括：
- 用于 SEM、电子探针、FIB-SEM 的 EDS 系统（焊接波纹管可作为选件提供）
- 将 EDS 和高分辨率 EBSD 分析的 eFlash FS 探头相结合
- 纳米分析