eFlash XS

브루커 나노 애널리틱스는 통합 EDS 및 EBSD 시스템을인수할 수 있는 실험실 수를 크게 늘리기 위해 SEM 시장의 저렴한 부분에 전념하는 고유한 EBSD 검출기인 eFlash XS를 개발했습니다. eFlash XS EBSD 검출기는 테이블탑 SEM 및 작은 챔버가 있는 표준 SEM과 같이 낮은 설치 공간 SEM에 의도적으로 설치되도록 설계되었습니다.

EBSD 의 전문 지식은 우수한 성능을 제공하면서 가장 신뢰할 수 있고 가장 저렴한 EBSD 검출기를 개발하기 위해 도청되었습니다. 최대의 신뢰성, 사용 편의성 및 패턴 품질을 위해 설계된 eFlash XS는 비닝 가능한 CMOS 카메라, 최대 광 전송을 위한 혁신적인 광학 시스템 및 고성능 사용자 교체 가능한 인광판으로 구동됩니다. USB3.0 컴퓨터 연결(전원 및 데이터)은 eFlash XS를 진정한 플러그 앤 플레이 악기로 만듭니다. 사용하지 않을 경우 EBSD 검출기의 SEM 부분은 외부 저장을 위해 미끄러져 감지기와 충돌하는 SEM 스테이지의 위험을 제거합니다.

새로운 eFlash XS EBSD 검출기는 ESPRIT 2 소프트웨어하에서 6세대 XFlash^® EDS 검출기와 통합되어 엔트리 레벨 SEM 시장을 위한 분석 기법의 강력한 조합인 QUANTAX ED-XS를생성합니다.

주요 이점(하드웨어 및 소프트웨어)

사용 편의성

• 보정이 필요하지 않습니다 - 패턴 중심에 대한 WD 변동 영향이 자동으로 수정됩니다.
• 비닝/패턴 해상도 변경이 필요하지 않습니다. 필요한 경우 모든 비닝 모드를 사용할 수 있습니다.
• 자동 카메라 게인
• 자동 결정 단계 설정 – 사용자 개입이 필요하지 않습니다.
• 우발적 인 EBSD 검출기 삽입위험이 없습니다.
• 사용자 교체 가능한 인광판
• EDS 하이퍼맵 및 EBSD 맵의 독립형 및 동시 인수 포함
• 자동화된 데이터 절약
• 지도 획득 이 끝나면 자동 EHT 종료가 사용자 선택 가능

새로운 사용자는 교육및 적은 시간 제약과 EDS 및 EBSD 연습 할 수 있습니다

값비싼 FE-SEM에서 EBSD 세션 전에 샘플 준비 품질을 확인할 수 있습니다.

FE-SEM 백로그를 줄이기 위해 저렴한 SEM에 대한 일상적인 EBSD 분석을 실행

중요 사양

• 네이티브 이미지 해상도: 720 x 540 픽셀
  
• 지원되는 비닝 모드: 2x2, 3x3, 4x4, 5x5, 6x6
• 속도: 모든 비닝 모드에서 525프레임/초(fps)
• 사용자 이동식 검출기 헤드 – 슬라이드 및 아웃 메커니즘
• 사용자 교체 가능한 인광판
• USB3.0 케이블을 통한 EBSD 데이터 및 전력 전송(추가 케이블 또는 박스 필요 없음)
• 외부 치수: 길이 ~ 84mm, 직경 ~ 48mm