Para aumentar significativamente el número de laboratorios capaces de adquirir un sistema EDS & EBSD integrado,Bruker Nano Analytics ha desarrollado eFlash XS, un detector EBSD único dedicado a la parte asequible del mercado SEM. El detector eFlash XS EBSD fue diseñado a propósito para ser instalado en SEM de bajo espacio, como SEM de sobremesa y SEM estándar con cámaras pequeñas.
Nuestra experiencia en EBSD ha sido aprovechada para desarrollar el detector EBSD más confiable y asequible de la historia, al tiempo que proporciona un excelente rendimiento. Diseñado para ofrecer la máxima fiabilidad, facilidad de uso y calidad de patrón, eFlash XS está alimentado por una cámara CMOS capaz de binning, un innovador sistema óptico para la máxima transmisión de luz y una pantalla de fósforo reemplazable por el usuario de alto rendimiento. Su conexión de ordenador USB3.0 (alimentación y datos) hace de eFlash XS un instrumento realmente plug-n-play. Cuando no está en uso, la parte en SEM del detector EBSD se desliza para almacenamiento externo, para eliminar cualquier riesgo de que la etapa SEM colisione con el detector.
El nuevo detector eFlash XS EBSD está integrado con un detector XFlash® EDS de 6a generación bajo el software ESPRIT 2 para crear el QUANTAX ED-XS,una potente combinación de técnicas analíticas para el mercado SEM de nivel de entrada.
Principales beneficios (hardware y software)
Facilidad de uso
Los nuevos usuarios pueden ser entrenados y practicar EDS & EBSD con menos limitaciones de tiempo
La calidad de la preparación de la muestra se puede comprobar antes de una sesión de EBSD en un costoso FE-SEM
Ejecuta análisis rutinarios de EBSD en SEM asequibles para reducir el trabajo pendiente de FE-SEM
Especificaciones importantes