eFlash XS

シンプルさは究極の洗練である

EDSおよびEBSDシステムを取得できるラボの数を大幅に増やすために、BrukerではSEM市場の手頃な価格帯に特化したユニークなEBSD検出器であるeFlash XSを開発しました。eFlash XS EBSD検出器は、テーブルトップや小型チャンバーのなど、低フットプリントのSEMに設置できるように設計されました。

これまでで最も信頼性が高く、最も手頃な価格の EBSD 検出器を優れた性能で開発するために、我々のEBSDの専門知識が活用されています。最高の信頼性、使いやすさ、パターン品質を実現するように設計されたeFlash XSは、ビニング対応のCMOSカメラ、最大光透過率を実現する革新的な光学システム、ユーザーが交換可能な高性能蛍光体スクリーンを搭載しています。eFlash XSは電源とデータ用のUSB3.0接続によって使用することができます。使用しない場合は、検出器とSEMのステージの衝突を避けるために、SEM内部のEBSD検出器は外部に取り外すことが可能です。

新しい eFlash XS EBSD 検出器は、ESPRIT 2ソフトウェア、第 6 世代 XFlash® EDS 検出器と統合され、QUANTAX ED-XSを形成します。エントリーレベルの SEM 市場のための強力なツールになります。

新しいeFlash XS:これまでで最も信頼性が高く、最も手頃な価格のEBSD検出器

主な優位点(ハードウェア&ソフトウェア)

使いやすさ

  • キャリブレーションは不要 - パターン中央におけるWD変動の影響が自動的に修正される
  • ビニング/パターンの解像度の変更は必須ではありません(必要に応じて、すべてのビニングモードが利用可能です)
  • 自動カメラゲイン
  • 自動化された結晶相セットアップ
  • ステージへのEBSD 検出器挿入のリスクがありません
  • ユーザーで交換可能な蛍光体スクリーン
  • EDS ハイパーマップと EBSD マップのスタンドアロンおよび同時取得が可能
  • 自動データ保存
  • マップ取得の終了時の自動 EHT シャットダウンはユーザーが選択可能

新しいユーザーは、より少ない時間でEDS & EBSDを習得することができます

サンプルの前処理の品質は、高価なFE-SEM上のEBSDセッションの前に確認することができます

FE-SEM のバックログを減らすために、手頃な価格の SEM でルーチンの EBSD 分析を実行することができます

主な仕様

  • ネイティブ解像度:720 x 540ピクセル
  • 対応可能なビニングモード:2x2、3x3、4x4、5x5、6x6
  • 速度:すべてのビニングモードで525フレーム/秒(fps)
  • ユーザー取り外し可能な検出器ヘッド
  • ユーザー交換可能な蛍光体スクリーン
  • USB3.0 ケーブル経由の EBSD データと電力転送(追加のケーブルやボックスは不要)
  • 外径:長さ ~84mm、直径 ~48mm