Stylus Profilometer   触針式形状測定装置

Dektak Pro

実証されたテクノロジー、強化されたパフォーマンス

DektakPro™は、55年にわたる表面測定の技術革新とトップクラスの技術を基に、触針式表面形状測定装置の性能に新たな基準を打ち立てました。このシステムは、この上ない使いやすさで最高品質のデータを提供します。

第11世代のDektak®システムの特長:

最先端の研究や産業用アプリケーションを将来にわたってサポートするために必要な、最新の信頼性の高い触針式形状測定を提供できるのは Dektak Pro だけです。

Industry-Leading
測定と分析
常に正確で精度の高いデータを確保
Unique
ダイレクトドライブ・スキャンステージとソフトウェア
 分析時間を短縮
Streamlined
ソフトウェアとチップ交換
比類のない汎用性と使いやすさを提供
Features

55年以上経った今でも触針式測定の技術革新を牽引

ブルカーのDektakシステムは、過去55年にわたり、解像度、安定性、速度、汎用性において画期的な改善を成し遂げ、スタイラスプロファイリング技術で業界をリードしてきました。現在、Dektak システムはスタイラスプロファイラのゴールドスタンダードとして定評があり、長年にわたり、高精度で信頼性の高いソリューションとして揺るぎない地位を確立しています。

Dektak Proは、操作性、信頼性、測定精度をさらに向上させ、触針式プロファイリングの代名詞ともいえるDektakの技術をさらに進化させました。

再現性と精度の追求

Dektak Proは、市販の触針式プロフィロメーターの中で最も高い解像度、最も低いノイズフロア、最も簡単な探針交換を実現し、正確で精密なデータを提供します。最先端の測定・解析技術により、再現性と精度を最大限に高め、シングルナノメートルステップの高さ測定と4Åを超える再現性を実現しています。

Dektak Pro reliably provides unbeatable performance

処理能力の向上

Dektak Proを使用すれば、測定と解析のすべての工程が高速化。ダイレクトドライブスキャンステージテクノロジーはスキャン間の時間を短縮し、Vision64®ソフトウェアの64ビットパラレルプロセッシングは高速データ処理を可能に。

スピードと使いやすさを追求したDektak Proのポイント:

  • 新しいアルゴリズムにより、光学ライブ画像ではほぼ全視野にピントが合うようになり、試料上の特徴が見つけやすい。
  • 新しい段差認識アルゴリズムにより、解析ルーチンが自動化され、一貫性が向上し、段差計算における潜在的なユーザーエラーを最小限に抑えることが可能に。
Previous-Generation Dektak
Dektak Pro

究極の汎用性と使いやすさ

幅広い用途に対応

Dektak Proは、研究開発、プロセス開発、QA/QCの様々な産業・研究用途における将来的なニーズに対応:

  • Microelectronics マイクロエレクトロニクス
  • Thick film coatings 厚膜コーティング
  • Biomaterials 生体材料
0.03mgで1μm、15mgで1mm の段差を、いずれもDektak Proの単一センサーで測定。

変化する測定シナリオにおける正確さと応答性

Dektak Proでは、1つの測定ヘッドで5nm~1mmの段差、0.03~15mgの荷重(N-Lite+オプション使用時)を再校正なしで測定できます。低慣性センサー(LIS 3)は、表面形状の急激な変化に素早く適応し、変化する測定シナリオでも精度と応答性を維持します。

素早く簡単にスタイラスを交換

Dektak Pro は、独自のセルフアライメント機能を搭載しているため、スタイラス交換が迅速かつ簡単に行え、プロセス中に起こりうる誤操作を防ぐことができます。ブルカーは、ほぼすべてのアプリケーションに対応できるよう、最も幅広いスタイラスをラインナップしています。

Dektak Pro features the fastest and easiest tip exchange, making tip switching simple to address the widest range of applications.

お客様の用途とご予算に最適な構成を選択

Dektak Proには、最大200 mmのサンプルにフルアクセスが可能なウェーハ用ステージや自動ステージオプションなど、お客様のニーズやご予算に応じたさまざまな標準構成があります。

Dektak Pro E or -S:手動100mmXYステージ(手動θオプション)

Dektak Pro A:   電動360°θ付き150 mm XYステージ

Dektak Pro A200: エンコードされた電動360°θ付き200mmXYステージ

製品仕様

主要スペック

ここに掲載されているのは、一部の製品の仕様や提供内容です。

Measurement Technique: Stylus profilometry (contact measurement) Low Force Option: N-Lite+ Low Force with 0.03 to 15 mg (optional)
Measurement Capability: Two-dimensional surface profile measurements;
Optional three-dimensional measurement/analyses
Stylus Options: Stylus radius options from 50 nm to 25 μm;
High Aspect Ratio (HAR) tips 200 μm x 20 μm;
Custom tips available upon request
Sample Viewing: Digital magnification, 0.275 to 2.2 mm vertical FOV Sample Stage X/Y: Manual 100 mm (4 in.) X/Y, manual leveling;
Motorized 150 mm (6 in.) X/Y, manual leveling;
Motorized encoded 200mm (8in.) X/Y
Stylus Sensor: Low Inertia Sensor (LIS 3) Sample R-Theta Stage: Manual, continuous 360 degrees;
Motorized, continuous 360 degrees
Stylus Force: 1 to 15 mg with LIS 3 sensor;
0.03 to 15 mg range with optional N-Lite+
   
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