Dektak XTL
Dektak XTL
Le profilomètre à stylet Dektak XTL™ accepte des échantillons jusqu'à 350 mm x 350 mm, apportant la répétabilité et la reproductibilité légendaires de Dektak® à la fabrication de plaques et de panneaux grand format. Le Dektak XTL est doté d'une isolation pneumatique contre les vibrations et d'un poste de travail entièrement fermé avec une porte à verrouillage facile d'accès, ce qui le rend idéal pour les environnements de production exigeants d'aujourd'hui. Son architecture à double caméra permet une meilleure perception de l'espace, et son haut niveau d'automatisation maximise le rendement de la production.
Le Meilleur Logiciel d'Automatisation et d'Analyse de l'Industrie
Des fonctions logicielles améliorées font du Dektak XTL le profileur à stylet le plus puissant et le plus facile à utiliser du marché. Le système utilise le logiciel Vision64 qui permet un nombre illimité de sites de mesure, une cartographie 3D et une caractérisation hautement personnalisée avec des centaines d'outils d'analyse intégrés. Le logiciel Vision Microform mesure également les formes, comme le rayon de courbure. La reconnaissance des formes minimise les erreurs de l'opérateur et améliore la précision de la localisation des mesures. Ce logiciel tout-en-un combine la collecte et l'analyse des données avec un flux de travail intuitif.
Une Technologie de Stylet Inégalée
Le Dektak XTL s'appuie sur plus de 50 ans d'expertise en matière de stylets et de personnalisation d'applications destinées aux installations de production afin de répondre aux feuilles de route rigoureuses de l'industrie actuelle et future. La mise en scène encodée XY de 300 millimètres, extrêmement précise, offre aux fabricants un outil fiable pour répondre aux exigences rigoureuses de R&R des jauges. La commande à double caméra de Dektak, qui comprend des caméras à double vision et à fort grossissement, offre une meilleure perception spatiale. Le positionnement par pointer-cliquer dans la vidéo en direct permet aux opérateurs de placer rapidement les échantillons au bon endroit pour une configuration de mesure et une programmation d'automatisation rapides et faciles. La grande porte verrouillée du système offre un accès sûr et facile pour le chargement/déchargement des échantillons.
Parmi les autres caractéristiques matérielles, on trouve :
- Une architecture à arche unique et un isolement intégré des vibrations pour des performances de pointe.
- Un stylet à alignement automatique et à changement rapide
- Une platine encodée XY de haute précision pour une collecte de données automatisée plus rapide.
- La faible force N-Lite avec la technologie Soft Touch et la plage de mesure de 1 mm peuvent être utilisées simultanément pour mesurer des échantillons délicats et à forte amplitude verticale.