Le nouveau mode breveté Tapping AFM-IR est une nouvelle capacité passionnante qui fournit une résolution spatiale de 10 nm pour l’imagerie chimique ainsi que la sensibilité à la mesure des monocouches et étend la capacité du nanoIR à un plus large éventail d’échantillons. L’aFM-IR permet d’utiliser la technologie nanoIR, de sorte qu’une résolution de mesure optimale est obtenue facilement et rapidement.
Disponible sur les plates-formes nanoIR2/2-s et nanoIR1.
Le nouveau laser OPO à pouls élevé étend la gamme de longueurs d’onde de l’AFM-IR amélioré par résonance pour couvrir les numéros d’onde de 2700 à 3600 cm⁻¹, ce qui étend la capacité à d’importantes régions spectroscopiques d’un large éventail d’échantillons.
Le nouveau laser OPO intègre également fastspectra™, une technologie exclusive fournissant la mesure des spectres IR à grande vitesse en quelques secondes, améliorant le temps aux données et permettant une compréhension plus détaillée de l’échantillon. Le laser FASTspectra OPO complète l’option laser FACSTspectra QCL standard qui offre une couverture à partir de
950-1900 cm⁻¹.
Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.
Permet aux utilisateurs d’étudier l’orientation moléculaire avec une résolution spatiale à l’échelle nanométrique en modifiant la polarisation d’entrée de la lumière IR tout en étudiant les changements associés dans les spectres IR à l’échelle nanométrique et/ou les cartes chimiques à un certain nombre d’ondes.
Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.
Accessoire pour l’imagerie fluide. Contactez Bruker pour les mises à niveau des systèmes installés. Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.
Permet à l’utilisateur d’étudier l’orientation moléculaire avec la résolution spatiale à l’échelle nanométrique en modifiant la polarisation d’entrée de la lumière IR tout en étudiant les changements associés dans les spectres IR à l’échelle nanométrique et /ou les cartes chimiques à un certain nombre d’ondes.
Disponible sur tous les systèmes Anasys nanoIR.
Disponible en modules plug-in pour les systèmes nanoIR3 et nanoIR3-s et fournir une cartographie complémentaire à l’échelle nanométrique avec l’analyse thermique à l’échelle nanométrique, l’AFM conducteur et Kelvin Probe Force capacités de microscopie.
Permet aux utilisateurs de basculer entre les sources laser OPO et QCL sur les systèmes équipés des deux lasers. Disponible sur les nanoIR3 et nanoIR3-s.
Permet à l’utilisateur de sélectionner n’importe quel point (ou série de points) sur l’image de l’AFM pour obtenir des températures de transition localisées, c’est-à-dire Tg et Tm, d’imager les températures de transition à travers la surface de l’échantillon via le mode de microscopie de température de transition (TTM) et de recueillir des cartes de la surface de l’échantillon montrant la variation de la conductivité thermique relative ou de la température relative à travers la surface (SThM). Disponible sur tous les systèmes Anasys nanoIR et en complément de certains AFM tiers.
Permet à l’utilisateur d’obtenir des cartes simultanées de la hauteur et du débit actuel de la surface de l’échantillon. Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.
Acquérir des mesures potentielles de surface. Disponible sur les plates-formes nanoIR3 et nanoIR3-s,nanoIR2/2-s et nanoIR1.