VERTEX 70v

Optique sous vide

Avec le banc optique travaillant sous vide ou purgeable du spectromètre IRTF VERTEX 70v, la sensibilité dans les gamme spectrales de l’IR proche,  moyen et lointain IR/THz sont obtenues sans les perturbations atmosphériques tels que la vapeur d’eau ou les absorptions de CO_2. Des résultats exceptionnels, par exemple dans le domaine de la recherche en nanosciences jusqu’aux monocouches, peuvent être obtenus.

Spectroscopie Bruker FM FIR-MIR

La technologie unique Bruker FM offre la possibilité d’acquérir un spectre IR complet de 6000 cm^-1 à 50 cm^-1 en une seule étape de mesure sans avoir besoin de modifier aucun composant optique.

Large gamme spectrale

Le VERTEX 70v peut être équipé de composants optiques pour couvrir la gamme spectrale de 10 cm^-1 soit l'IR lointain/THz, jusqu’au VIS/UV à 28 000 cm^-1.

Avec ses composants optiques pré-alignés et son interféromètre RockSolid^TM aligné en permanence, le changement d’optique est facile et sans entretien.

Réseau d’intelligence artificielle

Un assemblage de fonctions telles que la reconnaissance des accessoires et des composants optiques, la mise en place automatique et la vérification des paramètres de mesure rend la spectroscopie IRTF facile, rapide et fiable.

En outre, la vérification en continu des composants spectrométriques permet de réaliser des simples diagnostic et la maintenance des défauts. Une suite complète d’outils logiciels assure cette fonctionnalité.

Plug & Play: Mise en place facile

Où que vous soyez, branchez le cordon d’alimentation et la connexion Ethernet, et le VERTEX 70v est prêt à fonctionner. La connexion Ethernet du VERTEX 70v offre également la possibilité de contrôler le spectromètre via votre réseau ou le World Wide Web.

Le VERTEX 70v est l’instrument idéal pour des applications de recherche et de développement exigeantes.

Les technologies utilisées sont protégées par un ou plusieurs des brevets suivants : US 7034944

Le spectromètre sous vide VERTEX 70v répond parfaitement aux besoins d’applications de recherche qui nécessite une sensibilité élévée et une grande stabilité avec une excellentye résolution temporelle.

La gamme spectrale disponible du FIR/THz permet de répondre aux applications spécifiques pour la recherche industrielle. Le système polyvalent VERTEX 70v peut etre combiné à des accessoires dédiés pour des mesure appropriées à chaque demande dans le domaine de la spectroscopie IRTF.

Recherche et développement

• Technologie d’analyse résolue dans le temps et la spectroscopie de modulation d'amplitude et de phase (PM) (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
• Spectroscopie IRTF dans l'ultravide
• Mesure en électrochimie avec la spectroscopie IRTF pour l’étude in situ des surfaces d'électrodes et des électrolytes
• Étude des protéines dans l’eau (CONFOCHECK)
• Détermination de la configuration absolue des molécules (VCD)

Pharma

• Caractérisation de la stabilité et de la teneur des médicaments par analyse thermique (TGA-IRTF)
• Différenciation des différents polymorphes de principes actifs dans la gamme spectrale du lointain infrarouge (Bruker FM)

Polymères et chimie

• Identification des charges inorganiques dans les composites ou polymères dans la gamme spectrale du lointain IR (Bruker FM)
• Études dynamiques et rhéo-optiques des polymères
• Détermination des composés volatils et caractérisation des processus de décomposition par analyse thermique (TGA-FTIR)
• Surveillance des réactions et contrôle des réactions (sonde de fibre MIR)
• Identification des minéraux et pigments inorganiques

Analyse de surface

• Détection et caractérisation des couches minces et des monocouches
• Analyse de surface combinée à la modulation de polarisation (PM-IRRAS)

Science des matériaux

• Caractérisation des matériaux optiques et surfaces réfléchissantes (fenêtres, miroirs)
• Etude des matériaux très absorbants par depth profiling et la spectroscopie PhotoAcoustique (PAS)
• Caractérisation du comportement émissif des matériaux

Semi-conducteurs

• Détermination de la teneur en Oxygène et Carbone dans les wafers de Silicium  

Accessoires externes, sources et détecteurs

Le spectromètre  sous vide VERTEX 70v est équipé de cinq ports de sortie de faisceau et de deux ports entrée ou émission et offre la possibilité de faire évoluer le système avec des accessoires de mesure externes, des sources et des détecteurs. Cela comprend les éléments suivants :

• Accessoire de modulation de polarisation PMA 50 pour VCD et PM-IRRAS
• Module de Photoluminescence PL II
• Module FT RAMAN Ram II et microscope RamanScope III
  
• Couplage TGA-IRTF
• Microscope IRTF de la série HYPERION
• Système d’imagerie IRTF HYPERION 3000
  
• Module criblage haut débit HTS-XT
  
• Accessoire d’imagerie macro IMAC Focal Plane Array
• Compartiment échantillon externe XSA, purgeable
• Adaptation de chambre UHV étanche externe
• Module de mesure PL/PT/PR sous vide
• Unité de couplage pour fibre optique avec sondes en MIR ou NIR pour solides et liquides
• Sphères d’intégration
• Périphériques d’échantillonnage automatique

• Source externe Hg-Arc pour le FIR
• Séparatrice et détecteur MIR-FIR (Bruker FM)
• Adaptateur externe pour l'émission
• Source externe MIR externe de haute performance
• Compartiment détecteur externe  à 4 positions sous vide
  
• Adaptation du bolomètre pour la mesure dans le FIR