Spektrometr próżniowy FT-IR

VERTEX NEO R

VERTEX NEO R reprezentuje nową generację spektrometrów próżniowych FT-IR, zaprojektowanych w celu wyznaczania nowych standardów w zaawansowanych zastosowaniach badawczych. Kładąc nacisk na elastyczność, precyzję i innowacyjność, zapewnia doskonałe wsparcie dla nowoczesnych badań naukowych.

Skok naprzód.

Nowa generacja naukowo-badawczych spektrometrów próżniowych FT-IR

Gdzie innowacja spotyka się z odkrywaniem

Opierając się na 50 latach sukcesów na rynku akademickim i badawczym FT-IR, z dumą prezentujemy nasz spektrometr próżniowy FT-IR nowej generacji – VERTEX NEO R. Zaprojektowany z wykorzystaniem najnowocześniejszej technologii i sprawdzonych, unikalnych cech, to nowe urządzenie to nie tylko ulepszenie – to prawdziwa rewolucja! Mocniejsza elektronika, bardziej elastyczna optyka, całkowicie nowa technologia próżniowego ATR – VERTEX NEO R został stworzony, aby przesuwać granice odkryć naukowych i kontynuować naszą tradycję doskonałej wydajności serii VERTEX.

Dlaczego spektrometria FT-IR w próżni?

Kluczowe cechy

  • Optyka w pełnej próżni dla maksymalnej stabilności i czułości.
  • Unikalny próżniowy ATR
  • Interferometr RockSolid™ z optyką pokrytą aluminium i kątem 30° dla większej efektywności.
  • MultiTect™ obsługuje do 5 detektorów; DigiTect™ dla wyspecjalizowanych detektorów.
  • Wystarczająco dużo miejsca na MCT z czasem utrzymania 12–24 godziny (opcjonalna pokrywa).
  • Dwukanałowy 24-bitowy ADC do w pełni zdigitalizowanego przetwarzania sygnałów.
  • Prosty upgrade o zakresy bliskiej IR, dalekiej IR oraz VIS/UV.
  • Panel dotykowy z oprogramowaniem OPUS TOUCH do intuicyjnych i zaawansowanych pomiarów R&D.
  • Wybierane z poziomu oprogramowania: 5x porty wyjściowe i 2x porty wejściowe wiązki.
  • Świetny Rapid Scan, Slow Scan, Step Scan, i Interleaved TRS do pomiarów czasowo-rozdzielczych.
  • Rozszerzenie THz z oddzielną drogą optyczną.
  • Kompatybilność z modułami i akcesoriami od serii INVENIO i VERTEX.
  • Obszerna komora pomiarowa na duże akcesoria.
  • Pasek świetlny LED wskazujący status spektrometru.

Pierwszy prawdziwy, próżniowy ATR

Unikalne przystawka próżniowa ATR oferująca całkowicie próżniową ścieżkę wiązki oraz swobodnie dostępną podstawę próbek, zapewniając stabilne pomiary i łatwą obsługę próbek. Technologia próżniowego ATR ATR rewolucjonizuje analizę FT-IR, eliminując zakłócenia atmosferyczne i umożliwiając ultra-czyste, wysokoprecyzyjne pomiary. To przełomowe rozwiązanie pozwala na wykrywanie subtelnych szczegółów molekularnych, nawet w wymagających zakresach średniej i dalekiej podczerwieni, co czyni je idealnym do analizy wrażliwych lub niskostężeniowych próbek. Dzięki niezrównanej czułości i dokładności, pełna próżnia dla ATR wynosi Twoje możliwości badawcze na nowy poziom.

Innowacyjne pomiary czasowo-rozdzielcze z poprawionym pozyskiwaniem danych interleaved

Zaawansowana elektronika VERTEX NEO R umożliwia szybsze pozyskiwanie danych, co sprawia, że jest idealny do pomiarów czasowo-rozdzielczych procesów powtarzalnych i wyzwalanych. Jego innowacyjny algorytm przeplotu eliminuje ograniczenia okna czasowego, pozwalając na ciągłe monitorowanie przez długie okresy. To przełomowe rozwiązanie otwiera nowe możliwości, poszerzając zdolności badawcze jak nigdy wcześniej.

Większa elastyczność przy pozycjonowaniu detektorów

VERTEX NEO R charakteryzuje się innowacyjną ścieżką optyczną, która integruje automatyczną, 5-pozycyjną platformę MultiTectTM na detektory pracujące w temperaturze pokojowej w środowisku próżniowym, zachowując korzyści płynące ze slotów DigiTectTM. Oferuje to elastyczne opcje konfiguracj: do 5 detektorów pracujących w temperaturze pokojowej lub chłodzonych TE plus jeden detektor chłodzony LN2 lub dwa detektory chłodzone LN2. Wszystkie konfiguracje detektorów wspierają automatyczne przełączanie między detektorami - bez kompromisów w próżni. Dodatkowo, wsparcie dla detektorów chłodzonych LN₂ z czasem utrzymania 12 godzin to standard, zapewniając optymalną wydajność przez długi czas.

Różne rozwiązania do pomiarów nie-kriogenicznych w FIR

Hybrydowy moduł CW/FIR verTera jest w pełni zintegrowany do ścieżki optycznej VERTEX NEO R, rozszerzając zakres spektralny do 3 cm-1 (< 90 GHz) z rozdzielczością < 0.0007 cm-1 (< 20 MHz), bez blokowania pozycji detektora. Korzysta z tej samej komory pomiarowej i akcesoriów zarówno do pomiarów FT-IR, jak i THz. Dla uzyskania wysokiej czułości w dalekiej podczerwieni oraz zmniejszenia kosztów operacyjnych dostępny jest bolometr chłodzony cyklem zamkniętym He. VERTEX NEO R wspiera również dobrze znaną technologię FM firmy Bruker, umożliwiając jednoczesne pomiary w zakresie dalekiej i średniej podczerwieni.

Interferometr RockSolidTM, poprawiona optyka i elektronika nowej generacji

Wprowadzenie ustawionego na stałe, wykorzystującego lustra kubiczne interferometru RockSolidTM zrewolucjonizowało standardy FT-IR. Opierając się na tym dziedzictwie, VERTEX NEO R łączy tę tradycję z zaawansowaną konstrukcją optyczną oraz najnowszą generacją elektroniki, przesuwając granice wydajności jeszcze dalej. Posiada zewnętrzne porty wejściowe dla wiązki (każdy z wewnętrznym kołem przesłon), 8-pozycyjne koło filtrów do walidacji i filtrów niestandardowych, 13-pozycyjne koło przesłon, wewnętrzne moduły źródła, 5-pozycyjne automatyczne koło atenuatora oraz porty wyjściowe wiązki sterowane oprogramowaniem. Taki układ zapewnia wyjątkową elastyczność zarówno w konfiguracjach wewnętrznych, jak i zewnętrznych. Z rozdzielczością lepszą niż 0.16 cm-1 i dokładnością przekraczającą 0.005 cm-1, a także wysokim stosunkiem sygnału do szumu.

Uczelnie

VERTEX NEO R to wyjątkowe narzędzie do badań akademickich, oferujące zaawansowane możliwości, które sprawiają, że jest idealne do różnorodnych zastosowań. Jego wysoka elastyczność i adaptacyjność wspierają zarówno duże centra badawcze, jak i specjalistyczne, niestandardowe konfiguracje eksperymentalne, co czyni go nieocenionym w wymagających środowiskach badawczych.

Polimery i chemia

VERTEX NEO R to potężne narzędzie do zastosowań w dziedzinie polimerów i chemii, umożliwiające identyfikację nieorganicznych wypełniaczy w kompozytach polimerowych w dalekiej podczerwieni za pomocą technologii Bruker FM. Wspiera dynamiczne badania polimerów oraz analizę lotnych związków i procesów rozkładu za pomocą TGA-FT-IR. Dzięki sondzie światłowodowej MIR, FTIR umożliwia monitorowanie i kontrolę reakcji w czasie rzeczywistym, a także identyfikację minerałów nieorganicznych i pigmentów, zapewniając kompleksową analizę złożonych układów chemicznych.

Zielone technologie

Technologia FT-IR wspiera zielone technologie, umożliwiając charakteryzację nowych materiałów w różnych zakresach widmowych dla zrównoważonych rozwiązań energetycznych. Umożliwia monitorowanie wydajności i degradacji elektrod oraz innych materiałów ogniw w badaniach nad bateriami, a także analizę właściwości emisyjnych materiałów przy użyciu technologii pasywnego chłodzenia radiacyjnego (PRC) i technik emisyjności cieplnej.

Dodatkowo, wysokorozdzielcza spektroskopia fazy gazowej z TG umożliwia szczegółową analizę procesów rozkładu materiałów, wspierając zaawansowane badania w dziedzinie ochrony środowiska i energetyki.

Kataliza

Technologia FT-IR odgrywa kluczową rolę w katalizie, umożliwiając analizę spektralną w czasie rzeczywistym w skali milisekund, co znacząco poprawia monitorowanie reakcji. Pomiary DRIFTS w komorze reakcyjnej dostarczają cennych informacji na temat dynamiki reakcji katalitycznych, zapewniając kompleksową analizę na potrzeby badań i zastosowań w katalizie. Dodatkowo, dzięki możliwościom eksperymentalnych konfiguracji kompatybilnych z próżnią, FT-IR wspomaga identyfikację lotnych związków oraz charakteryzację procesów rozkładu za pomocą TG-FT-IR.

Półprzewodniki

Technologia FT-IR umożliwia wysokorozdzielczą analizę kryształów i powłok, pozwalając na dogłębną charakteryzację materiałów półprzewodnikowych. Dzięki rozwiązaniom fotoluminescencji w zakresie MIR i NIR ujawnia struktury elektronowe półprzewodników, dostarczając kluczowych informacji dla rozwoju materiałów. Ponadto, FT-IR umożliwia precyzyjne oznaczanie zawartości tlenu i węgla w waflach krzemowych, zapewniając dokładną kontrolę jakości w produkcji półprzewodników.

Fizyka ciała stałego

W fizyce ciała stałego technologia FT-IR umożliwia wysokorozdzielczą analizę kryształów i powłok, dostarczając szczegółowych informacji strukturalnych. Ujawnia również struktury elektronowe materiałów półprzewodnikowych dzięki rozwiązaniom fotoluminescencji w zakresie MIR i NIR, co pozwala lepiej zrozumieć właściwości i zachowanie materiałów na poziomie mikroskopowym. Bruker oferuje także szeroki wybór opcji integracji z kriostatami.

Life Science

Technologia FT-IR umożliwia bezinwazyjną analizę próżniową próbek biologicznych wyłącznie za pomocą próżniowego ATR VERTEX NEO R, zapewniając wyjątkową czułość w wykrywaniu niskich stężeń związków. Umożliwia szczegółowe badania białek w wodzie (CONFOCHECK) oraz określanie absolutnych konfiguracji molekularnych (VCD). Ponadto, FT-IR jest niezastąpione w charakteryzacji stabilności i zawartości lotnych składników produktów farmaceutycznych za pomocą TG-FT-IR, a także w różnicowaniu polimorfów aktywnych substancji farmaceutycznych w dalekiej podczerwieni dzięki technologii Bruker FM.

Astronomia i technologia kosmiczna

Technologia FT-IR odgrywa kluczową rolę w astronomii i technologii kosmicznej, umożliwiając określanie składu molekularnego próbek z misji kosmicznych i dostarczając cennych informacji o materiałach pozaziemskich. Wspiera również charakteryzację materiałów i urządzeń wykorzystywanych w astronomii, przyczyniając się do rozwoju technologii i lepszego zrozumienia środowiska kosmicznego. Ponadto, FT-IR wspomaga izolację matrycową oraz symulacje lodowych analogów, odtwarzając warunki kosmiczne w celu badania formowania się cząsteczek, ewolucji wszechświata i pochodzenia życia.

Telekomunikacja

Rozwój telekomunikacji 6G i 7G kieruje uwagę na spektroskopię FT-IR, przesuwając częstotliwości w zakres dalekiej podczerwieni (FIR). Rozwiązania takie jak verTera, bolometry niekriogeniczne oraz technologia FM odgrywają kluczową rolę w badaniu emiterów i odbiorników w tym zakresie. Zastosowanie metody skanowania krokowego AM dodatkowo zwiększa czułość, zapewniając precyzyjną i niezawodną charakterystykę niezbędną dla telekomunikacji nowej generacji.