什么是 SPM？
扫描探针显微镜 （SPM） 是用于在纳米级水平研究表面的仪器
SPM 的基础知识
扫描探针显微镜 （SPM） 是用于在纳米级研究表面的仪器。SM 使用物理探头形成曲面图像，该实体探头接触样品表面以扫描曲面并收集数据，通常作为数据点的二维网格获得，并显示为计算机图像。第一个SPM是1982年由Gerd Binnig和海因里希·罗勒在苏黎世的IBM研究实验室开发的扫描隧道显微镜（STM）。这是第一个被公认为具有原子分辨率能力的技术。
STM 使用显微镜扫描尖端和样品之间的电流来成像样品表面。不幸的是，这意味着样品的表面必须是导电或半导电，限制了可研究的材料。这些限制和其他驱动第一原子力显微镜（AFM）的发明。
与大多数 SFM 一样，AFM 使用非常锋利的尖端来探测和绘制曲面的形态图。但是，使用 AFM 时，不需要对样品进行导电，也无需测量尖端和样品之间的电流来生成图像。AFM 使用具有低弹簧常数的微型制造的悬臂的尖端或探针，以测量尖端对样品的压头力（连续或间歇性）。当尖端扫描样品时，尖端和样品表面之间的力会导致悬臂弯曲或偏转。测量悬臂偏转，测量结果生成地表地形图。
SM 的演变使科学家和工程师能够以前所未有的分辨率查看结构和细节，而无需进行严格的样品制备。技术进步和尖端技术（或"模式"）的发展极大地扩展了 SM 的能力，尤其是 AM，在材料和生命科学方面的广泛研究中。布鲁克是 AFM 设计领域的世界领导者，生产最先进的原子力显微镜和技术 ®，我们专有的 PeakForce 攻丝技术为 布鲁克 AFM 提供了最广泛的纳米级地形测量应用能力，以及纳米机械、纳米电气和纳米级化学制图。
