洛伦茨接触谐振 (LCR) 成像模式进一步增强了 AFM 和 nanoIR 系统的功能。LCR 允许在一系列温度下进行快速宽带纳米机械测量,识别关键样品测量对比度,并允许精确探头放置,以便进行后续化学或热分析,实现纳米级分辨率。
洛伦茨接触谐振基于洛伦茨力,即磁场中电流上的力。通过热向™的振荡电流与聚焦在探头附近的磁场相互作用,产生垂直振荡尖端采样力。悬臂上的振荡电流频率可以迅速改变,以测量接触共振的纳米力学光谱。
以这种方式驱动尖端,而不是使用压电晶体,有许多优点,包括驱动系统中没有移动部件,导致清洁悬臂共振光谱,没有寄生峰。
因为没有运动部件驱动悬臂,洛伦茨接触谐振在宽频范围内(底部图)提供非常干净的激励。压电驱动方案(顶部图)可以激发许多干扰接触谐振测量和结果解释的杂散谐振。
我们的分析工作室软件允许在宽范围(1 kHz 到 4 MHz)范围内进行频率扫描。通过将热弗™探针放在样品表面并扫除整个频率范围,可以获得表面的机械光谱,通过悬臂的振幅或移动峰值显示不同的刚度特性。