市场上仅存的便携式 XRF 元素成像光谱仪
用于元素分析的高质量光谱仪
关键特点
布鲁克 ELIO 易于操作,并可以揭示您所测试对象的重要信息。使用布鲁克 ELIO 时,无需担心文物安全。非接触式测量是完全无损的,并且无需样品制备。
测量头和三脚架的轻重量使该系统成为市场上仅有的真正便携式 X 射线荧光光谱仪(pXRF),且具有扫描功能。
激光器聚焦可轻松识别待测量点,并确保样品和测量头之间的正确安全距离。除了 XRF 数据之外,每个数据点还用内部摄像机记录高分辨率光学图像。
布鲁克 ELIO 提供优越的光谱质量,背景极低,可实现可靠的微量元素定性探测分析。该仪器还可以配备 He 吹扫系统,可将检测元素的范围扩展到 Na (Z = 11) 到 U (Z = 92)。布鲁克 ELIO 微区XRF 光谱仪凭借优越的电子器件设计,能可靠地探测微量元素。光谱仪可配备多个初始滤光片,以优化特殊应用的激发条件。
ELIO 软件可以记录并保存光谱或面扫描数据。自动峰位识别可以快速提示样品中可能存在的元素。该软件界面可以在采集光谱的同时显示谱线以及所选元素含量。通过光学图像和 XRF 数据的叠加,数据解析将变得非常简单。
强大的数据处理软件ESPRIT Reveal提供了许多离线分析选项。
"颜料的成分是什么?这种颜料是画家或这个时代特有的吗?油画中是否还隐藏着另一层颜料?"
这些问题在艺术考古以及鉴定方面备受关注。但原则上并不局限于油画。在研究各类文物的来源时,XRF是一个关键技术。
使用ELIO测量元素分布和组成可以避免珍贵的艺术品(如油画或历史文物)的运输。如果文物太重或太大,运输可能不可行,如岩画和洞穴油画的测试。布鲁克 ELIO 是仅有的一款真正便携的 XRF (pxrf) 成像光谱仪。开放式设计系统设计允许在现场对样品进行无损分析。
布鲁克 ELIO 可用于点测量或使用成像选项在 100 mm x 100 mm 的大区域中同时探测多个元素的分布。在如此大的区域收集 XRF 光谱也称为macro-XRF 或 MA-XRF。
激发和滤片选项
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分析范围 |
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探测器 |
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扫描 |
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准直器
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尺寸和重量 |
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