ELIO

主な事実

• 真にポータブルで柔軟
• 非接触測定
• 非侵襲的および非破壊的
• サンプルプレパレーションは不要
• 正確な測定位置制御のためのレーザー指導および顕微鏡のカメラ
• 元素分布と光学画像のオーバーレイ
• 信頼性の高いトレース元素検出

ブルカーELIOは操作が簡単で、あなたが目指すオブジェクトの重要な秘密を明らかにします。高価値のオブジェクトはブルカーELIOで安全です。非接触測定は非侵襲的で完全に非破壊的である。サンプルの準備は必要ありません。

測定ヘッドと三脚の軽量化により、このシステムは、市場でのマッピング機能と完璧な旅行仲間を備えた唯一の真にポータブルなX線蛍光(pXRF)分光計になります。

アライメント・レーザーは測定ポイントを容易に識別し、サンプルと測定ヘッドの間の正しい安全な距離を確保します。XRFデータに加えて、各データポイントの内蔵カメラで高解像度の光画像を記録します。

Bruker ELIOは信頼できる定性的な微量元素の検出を可能にする非常に低いバックグランドの優れた分光の質を提供します。この装置にはHeパージシステムを装備して、Na(Z = 11)からU(Z = 92)まで検出可能な要素の範囲をさらに拡張することもできます。Bruker ELIOのマイクロXRF分光計は電子工学の優秀な設計のおかげで確実に微量の元素を検出します。分光計は特定の適用のための励起条件を最大限に活用するために複数のX線フィルターを装備することができます。

ELIOソフトウェアでスペクトルや分布を記録できます。自動ピーク ID は、サンプル内の元素を視覚的にすばやく表示します。インタフェースは、集録の実行中のスペクトルと元素濃度を示します。光画像とXRFデータのオーバーレイにより、データ解釈が容易になります。
強力なデータ処理ソフトウェア ESPRIT Reveal には、オフライン分析のための多くのオプションがあります。

「ペンキの構成は何ですか?絵の具はアーティストにとって典型的ですか、それとも彼が住んでいた時代ですか?表面の下に隠された塗料の別の層はありますか?

芸術と保全、認証に関しては、質問が脚光を浴びています。しかし、原則は絵画に限定されません。あらゆる種類のアートワークの製造の起源の調査に関しては、重要な技術です。

元素のローカル分布の分析のために、あなたは実験室に絵画や歴史的な工芸品などの貴重なアートワークの輸送を避けることができます。オブジェクトが重すぎる場合や大きすぎる場合は、岩絵や洞窟の絵画のように、輸送が不可能になる可能性があります。ブルカーELIOは唯一の本当にポータブルXRF(pxrf)スキャナです。このオープンビームシステムは、現場で非破壊的に完了したサンプルを分析します。

Bruker ELIOは、ポイント測定またはマッピングオプションに使用して、100 mm x 100 mm の大きな領域で複数の元素の分布を同時に取得できます。この大きな領域にXRFスペクトルを記録することは、マクロ-XRFまたはMA-XRFとも呼びます。