陨石样品的高分辨X射线元素面分析
Mocs 陨石试样图的各元素复合图，裂痕处，主要集中的是铅元素（红色）
陨石样品是稀有的而珍贵的，所以通常最好使用无损方法进行分析。当对原始表面进行 SEM 微观研究时，EDS 分析常见样品制备步骤（如切割、研磨、抛光和碳涂层）将被严格排除。
在这种情况下，传统的 EDS 探测器将面临局限性，尤其是在需要高空间分辨率的情况下。这是因为矿物陨石样品通常是是不导电而且表面粗糙的，荷电和阴影效应是EDS 的主要挑战。
为了克服这些限制 ，XFlash® FlatQUAD提供了最先进的解决方案。这种类似于 BSE 探测器的独特环形 EDS 探测器测试时直接放置在样品的正上方。它的特点是对低 X 射线产量的样品具有极高的灵敏度，可以最大限度地减少阴影效果，因此是表征表面粗糙、不含导电涂层的样品（如陨石）的完美工具。
在右图的案例里，我们研究了Mocs陨石，它来自维也纳自然历史博物馆（NHM），这是1882年2月2日降落在匈牙利的陨石。XFlash® FlatQUAD 的应用成功揭示了宇宙物质的演变，因为它能够对元素成分进行高分辨率面分析表征，即使在这个样品裂痕的深处。
元素分布图显示陨石试样中裂痕内具有高铅含量
ESPRIT 软件可对强烈重叠的硫和铅的 X 射线峰进行谱峰剥离
高放大倍率下的详细元素分布图，显示裂纹内的纳米级碳纤维