eFlash FS
快速和灵敏的EBSD探测器
新型 EBSD 探测器 eFlash FS 旨在实现最大灵敏度，即使在变形或轻质量材料等具有挑战性的应用中可以在不影响数据质量的情况下进行高速 EBSD 测量。为了进一步提高采集菊池花样的质量，eFlash FS 采用了高灵敏度且可binning的CMOS相机。
新的 eFlash FS 探测器是所有"基于霍夫变换"EBSD 应用的最佳选择。摄像机灵敏度的巨大的提升与高速、高效率的荧光屏相结合，使新型 eFlash FS 探测器成为原位加热和原位拉伸/压缩测试等动态实验的理想解决方案。
3D EBSD 是另一个重要的应用，它将极大地受益于新的 eFlash FS 探测器的速度和灵敏度。
获取 400 x 300 像素的图/切片现在可以快速准备好 ，单切片只要 2 分钟 10 秒。这意味着 70 片 3D EBSD 数据多维数据集（8.4 M 体素）的数据采集部分只需要 2.5 小时。
其出色的灵敏度使新的eFlash FS探测器成为低电压 EBSD应用以及SEM中被称为透射EBSD（t-EBSD）的透射菊池衍射（TKD）的完美解决方案。使用采用独特的 OPTIMUS™ 改装的新探测器 TKD 探测器，在透射模式下采集样品取向分布图的速度现在可以高达 630 帧/秒 （fps），同时实现至少 2 nm 的有效空间分辨率。
同轴 TKD 的典型测量时间通常只有几分钟，不仅在不影响数据质量的情况下显著提高了效率，而且最大限度地减少了束流不稳定引起的缺陷。
eFlash FS 也可以搭配 ARGUS ™前散射/背散射电子成像系统。这进一步提高了探测器的多功能性，并为有意义和高效的微观结构特性提供了有价值的附加信息。
The eFlash FS EBSD systems with and without the OPTIMUS 2 head for on-axis TKD analysis