eFlash FS
El nuevo detector EBSD eFlash FS ha sido diseñado para ofrecer la máxima sensibilidad para permitir mediciones EBSD de alta velocidad sin comprometer la calidad de los datos, incluso en aplicaciones desafiantes como materiales deformados o ligeros. Para mejorar aún más la calidad del patrón, el sistema de refrigeración del eFlash FS se ha actualizado para reducir su temperatura de funcionamiento y, por lo tanto, reducir la corriente oscura de la cámara CCD tanto como sea posible.
Gracias a una mejora de la sensibilidad por un factor de tres y una caída de corriente oscura por un factor de cuatro (en comparación con el antiguo eFlash 1000), el nuevo detector eFlash FS es la mejor opción para todas las aplicaciones EBSD "basadas en Hough". La enorme mejora de la sensibilidad de la cámara combinada con una pantalla de fósforo de alta velocidad y alta eficiencia hace que el nuevo detector eFlash FS sea la solución ideal para experimentos dinámicos como el calentamiento in situ y las pruebas de tracción/compresión in situ.
3D EBSD es otra aplicación importante que se beneficiará enormemente de las capacidades de velocidad y sensibilidad del nuevo detector eFlash FS.
La adquisición de un mapa/rebanada de 400 x 300 píxeles ahora estará lista en tan rápido como 2 min 10 s. Esto significa que la parte de adquisición de datos de un cubo de datos EBSD 3D de 70 sectores (8,4 M voxels) requerirá solo 2,5 horas.
Su excelente sensibilidad hace que el nuevo detector eFlash FS sea la solución perfecta para aplicaciones EBSD de bajo kV, así como transmission Kikuchi Diffraction (TKD) en el SEM conocido como transmisión EBSD (t-EBSD). La asignación de orientación en modo de transmisión utilizando el nuevo detector adaptado con el exclusivo cabezal detector OPTIMUS™ TKD ahora es posible a velocidades de hasta 630 fotogramas por segundo (fps) mientras se logra una resolución espacial efectiva de al menos 2 nm.
Con tiempos de medición típicos de sólo unos minutos por mapa, TKD en el eje no sólo aporta un aumento notable en la eficiencia sin afectar a la calidad de los datos, sino que también minimiza los artefactos inducidos por la inestabilidad del haz.
El eFlash FS está disponible con ARGUS™ sistema de imágenes de electrones con necesidades forescasyadas/retrosonadas. Esto aumenta aún más la versatilidad del detector y proporciona información adicional valiosa para una caracterización significativa y eficiente de las microestructuras.
