▶ Watch On-Demand | 45 Minutes

On-Demand Access: Thin Film Characterization Using Spectroscopic Reflectometry and Ellipsometry Techniques

Learn more about the latest and most advanced spectroscopic reflectometry and ellipsometry techniques.

_{WATCH INDIVIDUAL SEGMENTS:}

Вам необходимо принять файлы cookie, чтобы воспроизвести это видео.

Presented by: Chris Claypool, Sr. Director, R&D, FilmTek Products (November 17, 2022)

Watch Now | 6 Minutes

Part 1: Introduction to Ellipsometry and Reflectometry Techniques

Вам необходимо принять файлы cookie, чтобы воспроизвести это видео.

Presented by: Chris Claypool, Sr. Director, R&D, FilmTek Products (November 17, 2022)

Watch Now | 15 Minutes

Вам необходимо принять файлы cookie, чтобы воспроизвести это видео.

Presented by: Chris Claypool, Sr. Director, R&D, FilmTek Products (November 17, 2022)

Watch Now | 10 Minutes

Вам необходимо принять файлы cookie, чтобы воспроизвести это видео.

Presented by: Chris Claypool, Sr. Director, R&D, FilmTek Products (November 17, 2022)