S8 TIGER Série 2

O S8 TIGER Série 2 é o instrumento WDXRF ideal para monitoramento geológico e aplicações minerais cobrindo quase toda a tabela periódica. Com sua flexibilidade analítica incomparável, ele detecta os principais elementos e traços em uma execução. Com a seleção de cristais de análise de alta resolução, como o LiF 220 e o cristal de alta intensidade XS-400, ele permite que os geólogos obtenham todas as informações de que precisam.

Não há instrumento melhor do que o S8 TIGER Série 2 para todas as aplicações petroquímicas WDXRF. O manuseio seguro de amostras de líquidos com DirectLoading, SampleCare e detecção automática de amostras de líquidos com alto tempo de atividade do instrumento é garantido. A cabeça do tubo de baixa temperatura e o modo de hélio atmosférico estão permitindo até mesmo a análise segura de amostras voláteis, como combustíveis e o limite de detecção de enxofre na gasolina com 0,2 ppm (100s @ 4kW com XS-GE-C) exige recorde mundial! Dois modos de hélio e a pequena câmara de amostra são as principais razões para o baixo custo de operação exclusivo - a quilometragem máxima com uma garrafa de hélio! A análise de impurezas em polímeros virgens em nível sub-ppm ou aditivos em plásticos preenchidos até vários% - tudo isso é dominado com o S8 TIGER Série 2. Catalisadores com melhor precisão e monitoramento rápido de brinquedos para elementos tóxicos é feito com um simples toque na interface TouchControl - o desempenho analítico do S8 TIGER Série 2 está no local para todas essas tarefas.

O S8 TIGER Series 2 é o instrumento WDXRF ideal para servir aos cientistas em P&D e acadêmicos, resolvendo as tarefas mais desafiadoras. Com a tecnologia HighSense, sua flexibilidade analítica incomparável e as condições ideais para elementos leves, a Série S8 TIGER prova que oferece resultados imediatos! A solução padrão totalmente integrada QUANT-EXPRESS estende a flexibilidade analítica ao adicionar elementos a aplicativos calibrados pelo usuário. Uma maneira fácil de dominar desafios não rotineiros! O mapeamento de pontos pequenos XRF2 com tamanho de ponto de 300 nm e tamanho de passo de 100 nm permite o mapeamento de pontos pequenos com melhor sensibilidade de elemento de luz de WDXRF, resolução ideal melhor que EDXRF e melhores limites de detecção para elementos pesados devido à óptica HighSense. Uma ferramenta indispensável para arqueologia, baterias, eletrônica e novos materiais!