QUANTAX WDS

~ 4

eV

FWHM para Si-Kα

Resolução de energia superior em mais de uma ordem de magnitude

< 100

ppm

Limite de detecção para vários elementos

Alta precisão e precisão de elementos traços

> 900

cps/nA

Taxa de contagem para C-Kα com uma multicamada de 80 Å

Alta sensibilidade para raios X de baixa energia

Complemente seu SEM com os benefícios de um microanalisador de sonda eletrônica

O QUANTAX WDS (WDX) para SEM consiste no espectrômetro dispersivo de comprimento de onda XSense produzindo a melhor resolução entre todos os sistemas WDS de feixe paralelo. O grande ângulo sólido, devido ao projeto de feixe paralelo, resulta em uma intensidade de sinal muito maior para raios-X de baixa energia em comparação com um espectrômetro WDS baseado em círculo de Rowland.

As altas relações sinal-ruído que são características do WDS são aprimoradas ainda mais por uma óptica secundária exclusiva que suprime os artefatos de fundo.
Equipado com a mais fina óptica de incidência rasante e até seis cristais analisadores, o QUANTAX WDS tem uma sensibilidade superior para raios-X de baixa energia de 70 eV para cima.
Um engenhoso sistema de alinhamento óptico automático e um contador proporcional controlado por pressão exclusivo garantem resultados precisos e reprodutíveis.
Adaptação flexível a uma porta WDS ou EDS.

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WDS on SEM – uma solução perfeita para aplicações analíticas exigentes

Resolver sobreposições de pico EDS comuns, como Ta-W-Si, Pb-S ou Mo-S
Explore séries de linhas de raios X de baixa energia (L, M, N) para os elementos de interesse
Examine amostras com baixas tensões de aceleração para garantir uma profundidade mínima de penetração
Obtenha o mais alto cps/nA devido ao alto ângulo sólido que permite a investigação de elementos leves de Be a F em toda a faixa de concentração
Determinar as concentrações de oligoelementos muito abaixo dos limites de detecção de um EDS
Medir em baixo vácuo sem a necessidade de um revestimento condutor
Economize tempo em medições analíticas com um contador proporcional exclusivo controlado por pressão
Garanta a precisão espacial dos dados espectrais para uma quantificação precisa
Economize tempo de aquisição com análise simultânea de WDS e EDS que incorpora os benefícios de cada detector na quantificação combinada