超高空间分辨率下的超快元素定性定量解决方案！
网络研讨会，约32分钟
超高空间分辨率下的超快元素定性定量解决方案！
众所周知，块状样品中纳米级特征的化学元素面扫描非常具有挑战性，因为它需要同时实现高空间分辨率成像和准确的谱图分析。
布鲁克全新推出的第7代XFlash®能谱仪具有最佳的立体角和最高的脉冲处理速度，确保最高的采集效率和灵敏度。即使在低电压、低束流下也能保证出色的输出计数率和准确度，是您进行高空间分辨率元素分析的理想选择
在本次网络研讨会中，我们将通过对块状半导体和航空材料进行高空间分辨率能谱分析的案例向您展示布鲁克能谱仪如何帮您最大限度地提高 SEM 的元素分析能力。同时为您介绍能够实现实时元素面分布扫描所必需的强大助手——ESPRIT软件全新搭载的LiveMap。不仅如此布鲁克全新第七代能谱的其他亮点功能我们也将一并展示。
布鲁克纳米分析部诚邀您的参加！
图1：高空间分辨率的半导体材料元素面分布图，其中Co，Si和W的分布可以被清晰表征
图2：纳米级SEM图像中镍基单晶合金的高分辨率Ni，Cr元素面分布
主讲人
刘聪 博士
应用专家, 布鲁克纳米分析部
陈剑峰 博士
布鲁克纳米分析部应用科学家
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