Hysitron TS 75 TriboScope
Hysitron TS 75 TriboScope
브루커의 Hysitron TS 75 TriboScope는 정량적, 단단한 프로브 나노 핀덴티션 및 nanotribological 특성화 기능을 원자력 현미경 검사법의 세계에 제공합니다. Hysitron TriboScope는 브루커의 Dimension Icon, Dimension Edge, and MultiMode 8 AFM과 인터페이스하여 이러한 현미경의 특성화 기능을 확장합니다. TriboScope는 엄격한 테스트 프로브를 활용하여 캔틸레버 기반 측정과 관련된 본질적인 한계, 가변성 및 복잡성을 제거하여 나노미터에서 마이크로미터 길이 의 저울에 걸쳐 정량적이고 반복가능한 기계적 및 삼비학적 특성화를 제공합니다.
단단한 프로브 이점
대부분의 AfM은 규정을 준수하는 캔틸레버를 사용하여 기계적 또는 마찰 학적 테스트를 수행하므로 캔틸레버의 굴곡성 및 회전 강성을 적용 된 스트레스에 대한 재료의 반응에서 분리하는 데 중요한 어려움을 겪습니다. TriboScope는 경질 테스트 프로브 어셈블리를 사용하여 테스트 중에 적용된 힘과 변위를 직접 제어하고 측정할 수 있습니다.
독점 정전기 힘 작동
TriboScope는 독자적인 정전기 력 작동 및 정전용량 변위 감지 트랜스듀서 기술을 활용하여 업계 최고의 소음 바닥과 나노 스케일의 바닥에 특성을 특성화하기 위한 낮은 열 드리프트를 제공합니다.
힘 및 변위 피드백 제어
TriboScope는 폐쇄 루프 힘 제어 또는 변위 제어하에서 작동합니다. TriboScope는 78kHz 피드백 루프 속도를 활용하여 빠른 재료 변형 과도 이벤트에 대응하고 작업자가 정의한 테스트 기능을 충실하게 재현할 수 있습니다.
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