Vertex 70v

진공 광학

VERTEX 70v 진공 FT-IR 분광계의 대피 광학 벤치를 통해 중거리, 근교 및 FAR IR/THz 영역의 PEAK 감도는 수증기 또는 CO₂ 흡수로 인한 매우 약한 스펙트럼 특징을 마스킹할 두려움 없이 얻어집니다. 뛰어난 결과, 예를 들어 나노 과학 연구의 영역에서 하위 단층까지, 얻을 수 있다.

브루커 FM FIR-MIR 분광기

독특한 Bruker FM 기술은 광학 부품을 변경할 필요 없이 단일 단계 측정에서 6000cm^-1 ~ 50cm-1의 완전한 원거리 및 중간 IR 스펙트럼을 획득할 수 있는 가능성을 제공합니다.

넓은 스펙트럼 범위

VERTEX 70v는 선택적으로 광 성분을 장착하여 멀리 IR/THz에서^10cm-1부터 IR 근처의 중간 및 근간을 통해 28,000cm-1의 VIS/UV 스펙트럼 범위까지 스펙트럼 범위를 커버할 수 있다.^-1 사전 정렬된 광학 부품과 영구적으로 정렬된 RockSolid^TM 간섭계를 통해 범위 변경이 용이하고 유지 보수가 없습니다.

인공 지능 네트워크

샘플링 액세서리 및 광학 부품 인식, 자동 설정 및 측정 파라미터 검사와 같은 훌륭한 기능의 조립으로 FT-IR 분광법을 쉽고 빠르고 신뢰할 수 있습니다. 또한 분광기 구성 요소의 영구적인 온라인 검사는 고장 진단 및 유지 보수를 단순하게 유지합니다. 전체 소프트웨어 도구 제품군은 이 기능을 보장합니다.

플러그 앤 플레이: 간편한 설정

전 세계, 어디에 있든 전원 코드와 이더넷 연결을 연결하고 VERTEX 70v는 작동 할 준비가되어 있습니다. VERTEX 70v에 대한 이더넷 연결은 네트워크 또는 월드 와이드 웹을 통해 분광계를 제어할 수 있습니다.

VERTEX 70v는 까다로운 연구 및 개발 응용 분야에 이상적인 도구입니다.

사용되는 기술은 다음 특허 중 하나 이상으로 보호됩니다: US 7034944

VERTEX 70v 진공 분광계는 고감도, 안정성 및 시간적 해상도가 필요한 연구 응용 분야의 요구에 완벽하게 부합합니다. FIR/THz 영역까지 사용 가능한 스펙트럼 범위는 산업 연구를 위한 추가적으로 특정 응용 프로그램을 가능하게 합니다. 다목적 VERTEX 70v 시스템은 FT-IR 분광법 분야의 거의 모든 요구에 적합한 액세서리와 적절한 측정 기술을 사용하여 제공합니다.

연구 개발

• 시간 해결뿐만 아니라 진폭 (AM) 및 위상 변조 (PM) 분광기 (단계 스캔 / 빠른 스캔 / 인터리브 TRS)에 대한 연속 및 단계 스캔 기술
• 초고진공의 FT-IR 분광법
• 전극 표면 및 전해질의 시상 조사를 위한 FT-IR 분광화학
• 물에서 단백질의 조사 (CONFOCHECK)
• 분자의 절대 구성의 결정 (VCD)

제약

• 열분석(TGA-FT-IR)을 통해 의약품 제품의 안정성 및 휘발성 함량의 특성화
• 원적외선 영역에서 활성 제약 성분의 다형성 분화(브루커 FM)

폴리머 및 화학

• 원적외선 영역(Bruker FM)의 폴리머 복합재에서 무기 필러 식별
• 폴리머의 동적 및 레오 광학 연구
• 열 분석(TGA-FTIR)에 의한 휘발성 화합물 의 측정 및 분해 공정의 특성화
• 반응 모니터링 및 반응 제어(MIR 섬유 프로브)
• 무기 미네랄 및 안료 식별

표면 분석

• 얇고 단층의 검출 및 특성화
• 편광 변조(PM-IRRAS)와 결합된 표면 분석

재료 과학

• 광학 및 고반사 재료의 특성화(창문, 거울)
• 사진 음향 분광기 (PAS)에 의해 어두운 재료와 깊이 프로파일링의 조사
• 재료의 발광 행동의 특성화

반도체

• 품질 관리를 위한 실리콘 웨이퍼의 산소 및 탄소 함량 측정

외부 액세서리, 소스 및 검출기

VERTEX 70v 진공 분광계에는 5개의 빔 출구 포트와 2개의 빔 입력 포트가 장착되어 있으며 외부 측정 액세서리, 소스 및 감지기로 시스템을 쉽게 업그레이드할 수 있습니다. 여기에는 다음이 포함됩니다.

• VCD 및 PM-IRRAS용 PMA 50 편광 변조 액세서리
• PL II 광발광 모듈
• RAM II FT-라만 모듈 과 라만 스코프 III FT-라만 현미경
• TGA-FT-IR 커플링
• 하이페리온 시리즈 FT-IR 현미경
• 하이페리온 3000 FT-IR 이미징 시스템
• HTS-XT 높은 처리량 스크리닝 eXTension
• IMAC 초점 평면 배열 매크로 이미징 액세서리
• 외부 샘플 컴파트먼트 XSA, 대피 또는 제거 가능
• 외부 진공 단단한 UHV 챔버 적응
• 진공 PL/PT/PR 측정 장치
• 고체 및 액체용 MIR 또는 NIR 광섬유 프로브가 있는 광섬유 커플링 유닛
• 큰 통합 구
• 자동 샘플러 장치

• 외부 FIR Hg 소스
• 독특한 넓은 범위의 MIR-FIR 빔 스플리터 및 검출기 (브루커 FM)
• 외부 배출 어댑터
• 외부 고성능 MIR 소스
• 외부 진공 4위치 검출기 챔버
• FIR 범위의 검출을 위한 볼로미터 적응