Step Scan / 신속한 스캔

Step Scan

• 1988 년 R&D 100 단계 스캔 기술 개발을 위한 수상자
• 유연한 실험 트리거링 - 사용자 정의 마스터/슬레이브
• 실험에 이상적인 설정을 구성하기 위해 광범위한 하드 및 소프트웨어
• 매우 낮은 ns 범위까지 시간 해결 된 실험
• 인베니오 및 버텍스 시리즈 분광기에 사용 가능
• 성공을 보장하기 위한 기술 및 애플리케이션 지원

시간 해결 분광기

단계 스캔 기법을 사용하면 매우 빠른 재현 가능한 이벤트(과도)의 시간적 진행 상황을 모니터링할 수 있습니다. 간섭계 미러는 실험이 다시 시작되는 별도의 간섭지점으로 연속적으로 단계별로 시작됩니다. INVENIO 및 VERTEX 계열 분광기는 매우 정밀한 스캐너 제어로 고품질 간섭계를 활용하여 최상의 시간 해결 데이터를 얻을 수 있습니다.

응용 프로그램

• 생물학적 화합물의 전자 전달 연구
• 고속 가스 상 운동학
• 지질학적 간질종의 역학
• 급진적 중급자의 상태 간 분광법
• 연소 공정의 역학
• 사진 의 실험
• 펌프 프로브 실험
• 유기 금속 화학 반응의 운동
• 시간 해결 방출 분광법, 예를 들어 광발광, 형광 또는 펄스 레이저 방출.

신속한 스캔

비재현성 실험(예: 많은 화학 반응)의 시간 해결 분광법의 경우 위에서 언급한 단계 스캔 접근법은 더 이상 적용되지 않는다. 그러나 이러한 실험 클래스의 경우 소위 Rapid Scan 기술을 사용하여 시간 해결 된 데이터를 얻을 수 있습니다. 이 경우 간섭계 미러는 매우 빠르게 이동하고 각 전체 전방 후진 간섭계 스캔에서 최대 4 스펙트럼을 추출할 수 있습니다.

한 스캔의 지속 시간은 미러 속도뿐만 아니라 거리에 따라 달라지므로 초당 달성 가능한 스펙트럼 수도 스펙트럼 해상도에 따라 달라집니다. 래피드 스캔 옵션을 갖춘 VERTEX 70v와 INVENIO는 초당 70개 이상의 스펙트럼을 달성할 수 있습니다. 또한 혁신적인 UltraScan^TM 간섭계를 기반으로 한 VERTEX 80/80v는 표준을 설정하여 초당 110개 이상의 스펙트럼을 달성했습니다!

신규: 인터리브 TRS

INVENIO 및 VERTEX 계열 분광기의 인터리브 된 시간 해결 (TRS) 획득 모드는 특별한 신호 대 잡음 비율을 가진 반복적 인 실험의 특정 클래스의 시간 해결 측정을 위한 강력한 접근 방식입니다. 간섭계 미러가 지속적으로 이동하고 내부 HeNe 레이저의 제로 크로싱이 실험을 트리거하는 데 사용됩니다. 데이터는 HeNe 제로 크로싱(t=0)에서 뿐만 아니라 특정 시간 지연 Δt에 속하는 미러 위치에서도 획득됩니다. 따라서 시스템은 지속적으로 데이터를 수집하고 원칙적으로 한 번의 스캔 내에서 전체 시간 해결 인터페라그램을 수집할 수 있습니다. 인터리브 시간 해결 FT-IR 분광기는 브루커가 독점적으로 제공됩니다.